测试基本知识ICT部分.pdf

LITE ON IN Circuit Test IN Circuit Test Initial Test Initial Test Hi Pot - Hi-Pot SCPOVP SCPOVP ATE ATE Power Test Power Test Sagesxie:SHZhou ENG-TE LITE ON 儀器介紹 ICT 结 3 压床 7 显示器 构 示 2测试针盘 意 6 列印机 图 5 ICT主机 1电源开关 4 电脑主机 ICT Introduce LITE ON ICT測試目的: SPS經過Solding后,在對机台進行強電TEST之前,對机台上 SPS經過Solding后,在對机台進行強電TEST之前, 大部分的零件功能進行檢測,以机台在加入強電后,造成損 ,以机台在加入強電后,造成損 毀,同時將測試不符規格之不良產品加以區分,以便修理. ,同時將測試不符規格之不良產品加以區分,以便修理. ICT測試原理: ICT測試原理: 通過輸入訊號給机台零件,計算各零件狀態并与標準值比較以 通過輸入訊號給机台零件,計算各零件狀態并与標準值比較以 判斷零件是否符合規格. 斷零件是否符合規格. 优點: 优點: 在較短的時間內,對机台上大部份的零件進行檢測,且對机台零件測試覆蓋廣. 在較短的時間內, 在對机台進行強電TEST之前,可先期檢測出不良,以免机台在加入強電后,造 成損毀 因其利用訊號(非机台工作用電)對机台進行檢測,故不會對机台產生負面影. ICT Introduce LITE ON ICT功能簡介: ICT功能簡介: 主要對机台進行幵路 、短路 、零件值測試. 主要對机台進行幵路 、短路 、零件值測試. BOS32硬體架構: BOS32硬體架構: 1.電腦:486及以上机型,硬碟:200M以上空間,16M內存; 2.測試壓床; 3.ICT測試主机(并含有幵關板和測量板); 4. I/O CARD,數据排線; 5.列印机; 6.机種測試治具. ICT Introduce LITE ON 一 : 各按鈕功能說明: 一 : 各按鈕功能說明: pin find release print redo start power 1. pin find - 針號的發現,此孔僅為TE專業人員使用. 1. 2. redo 功能與下面的“start”功能相同,但測試結果不列入 統計資料中. 3. print 測試后,屏募出現“fail”字符時,按此扭就可以把錯誤 信息列印出來.