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可靠性测试与失效分析 卢智铨 香港科技大学先进微系统封装中心 大 纲 •可靠性基础知识 –可靠性的定义 –可靠性测试与产品认证的区别 •可靠性测试方法 –数据采集设备与方法 –统计分析模型与方法 –测试标准与实验规划 •失效分析方法 –失效分析设备 –非破坏性检验方法 –破坏性检验方法 –案例 常见电子产品的设计寿命 3 如何定义可靠性 (Reliability) 元件或系统在一定时间内、在一定条件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。 4 浴盆曲线（Bathtub Curve ） 5 电子产品的测试项目与条件举例 6 常见可靠性测试项目名称 Room Temperature Operating Life Test (RTOL) Low Temperature Operating Life Test (LTOL) High Temperature Operating Life Test (HTOL) Wet High Temperature Operating Life Test (WHTOL) High/Low Temperature Storage Test Temperature Cycle Test Pulse Life Test Resistance to Soldering Heat Test Thermal Shock Mechanical Shock Vibration Test Salt Atmosphere (Corrosion Test) Dust Test 7 知名厂商的测试项目条件案例  Stress Conditions Test Method Cree-XLamp Luxeon-K2 o o RTOL Ambient Temperature: 45 C Ambient Temperature: 55 C Forward Current: Maximum in datasheet Forward Current: Maximum in datasheet Test Period: 1008 hours Test Pe