SPC示例.ppt

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * CPK ?? 分布 CPK ?? 分布 CPK ?? 分布 THE END谢谢 * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * C 图在样本大小一致的子组内的不合格数 u 图 单位缺点数控制图 分析或控制制程单位缺点数 样本大小 n 可以不同 u 图 控制图应用的选择程序 注： 本图设测量系统已经过 评价 并且是适用的 否 确定要制定控制图的特性 是计量型数据的吗？ 关心的 是不合格品率 – 即“坏”零件 的百分比吗？ 关心的 是不合格数 – 即单位零件 不合格数吗？ 样本容量是否恒定？ 样本容量 是否恒定？ 使用p图 使用u图 使用np或p图 使用c或u图 是 否 否 否 否 性质上是否 均匀或不能按子组取样 –例如：化学糟液 批量油漆等？ 子组均值 是否能很 方便地计算？ 子组容量是否大于或等于9？ 是否能方便 地计算每个子 组的S值？ 使用中位数图 使用Xbar-R图 使用单值图X-MR 是 否 否 是 否 使用Xbar-R图 使用Xbar-S图 是 是 是 是 是 是 过程能力 过程控制与过程能力 判断一个 过程是受控还是不受控用： 控制图 判断一个过程是否满足规格要求： 能力指数 - Cpk 性能指数 - Ppk 过程能力 产品 具有能力的过程 过程能力 产品 不具有能力的过程 短期 长期 过程能力 短期研究 长期研究 一月 星期一 星期二 二月 过程能力的研究 输入 (材料) 过程 (生产/装配) 输出 (产品) 反馈 (测量/检验) 短期能力研究 - 过程性能 过程能力的研究 短期 普通原因 特殊原因 短期能力研究 - 过程性能 过程能力的研究 过程性能 (Process Performance) 过程总变差 由普通原因与特殊原因造成的变差 由 估计出 是在控制图上所有样本的标准偏差总和 过程能力的研究 过程性能 = 子组内变差 + 子组间变差 = 特殊原因变差 + 普通原因变差 = 过程能力的研究 输入 (材料) 过程 (生产/装配) 输出 (产品) 反馈 (测量/检验) 长期能力研究 - 过程能力 长期能力研究 - 过程能力 过程能力的研究 长期 R7 R5 R4 R1 R2 R3 R6 过程能力 (Process Capability) 过程固有总变差 由普通原因造成的变差 由 估计出 (Rbar)是样本子组的平均全距 是普通原因变差的测量值 过程能力的研究 过程能力 = 子组内变差的平均值 = 普通原因变差 = 6 过程能力的研究 指数 (index) 客户要求的 过程能力与过程性能的数值 指数 Upper Spec Lower Spec Short-Term Capability Long-Term Capability 指数分类 能力指数的计算基于以下假设条件： 过程处于统计稳定状态 每个测量单值遵循正态分布 规格的上、下限是基于客户的要求 测量系统能力充分 如果理解关满足了这些假设后，能力指数的数值越大，潜在的客户满意度越高 过程能力指数 Cp = 规格范围与过程能力的比率 不考虑过程的对中性 能力指数Cp LSL USL 规格范围 固有变差 CPU = 上限公差范围与1/2个固有 过程 能力的比率 考虑过程的对中性 上限能力指数 CPU LSL USL 上限公差范围 ?固有能力 CPL = 下限公差范围与1/2个固有 过程 能力的比率 考虑过程的对中性 下限能力指数 CPL LSL USL 下限公差范围 ?固有能力 Cpk 是CPU或CPL中较小的一个： 对中能力指数Cpk Pp = 规格范围与过程性能力的比率 不考虑过程的对中性 性能指数 Pp LSL USL 过程总变差 规格范围 与Cpk相同，Ppk等于： 对中性能指数Ppk Cpk (PPM) T 0.67 45,600 4? 1.00 2,700 6? 1.33 67 8? 1.67 0.67 10? 2.00 0.002 ** 假设是一个对中 的正态分布过程 Cpk 与 PPM 的关系 10 ? 8 ? 6 ? 4 ? 请以Xbar-R控制图的制作练习中的数据计算