soc 测试 - 与非网.pdf

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2017-09-10 发布于天津
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测试胡瑜韩银和李晓维摘要本文介绍芯片系统测试面临的挑战现有测试技术和未来研究方向随着芯片规模按照摩尔定律增长复用核构建逐渐成为芯片设计的主流基于核的测试技术受到广泛关注本文结合中科院计算技术研究所测试及可信计算课题组开展的研究工作综述四类核的测试技术和测试资源优化技术介绍两个标准化组织开展的测试标准工作展望测试的研究方向面临的挑战芯片设计规模集成电路制造工艺的进步使芯片上晶体管的数量按照摩尔定律增长预计将在年达到百亿数量级如图所示每十二个月芯片的集成度就可提高而设计能力只能提高导致芯片制造能力与

1 SOC 测试胡瑜韩银和李晓维摘要本文介绍芯片系统（System-on-a-Chip, SOC）测试面临的挑战、现有测试技术和未来研究方向。随着芯片规模按照摩尔定律增长，复用 IP（Intellectual Property）核构建 SOC 逐渐成为芯片设计的主流。基于IP核的SOC测试技术受到广泛关注。本文结合中科院计算技术