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一种高效的混合test-per-clock测试方法anefficient-电子与信息学报.pdf

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第卷第期电子与信息学报年月一种高效的混合测试方法刘铁桥牛小燕杨洁毛峰杭州电子科技大学杭州摘要该文提出了一种基于内建自测试的混合模式向量产生方法测试由两个部分组成自由线性反馈移位寄存器伪随机测试模式和受控确定型测试模式伪随机测试模式用于快速地检测伪随机易测故障减少确定型数据存储受控测试模式采用直接存储在中的控制位流对剩余故障产生确定型测试通过对提出的混合模式测试结构理论分析提出了伪随机向量的选取方法以及基于受控线性移位确定型测试生成方法基准电路的仿真结果表明该方法可以获得完全单固定型故障覆盖率其测

第39 卷第9 期 电 子 与 信 息 学 报 Vol.39No.9 2017 年9 月 Journal of Electronics Information Technology Sept. 2017 一种高效的混合Test-Per-Clock 测试方法 刘铁桥* 牛小燕 杨 洁

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