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采用低压微波消解系统以和消解样品用络合过量的并研究了对测汞的影响共存元的干扰对各元的影响建立了低压微波消解法测定聚氯乙烯塑料及其制品中和的方法和的检出限分别为相对标准偏差为回收率为该方法可推广应用到其它塑料中和的测定已应用于实际的检测工作电感耦合等离子体原子发射光谱法低压微波消解聚氯乙烯
268 Vol.26.No.8
20078 Chinese Journal of Analysis Laboratory 2007- 8
$ ICP-AES
PbCdCr Hg
1,2 2 1 * 1
, , ,
( 1. , 361005;
2. , 315012)
:采用低压微波消解系统, 以HNO HClH O HClO 和HF 消解样品,
3 2 2 4
- -
用H BO 络合过量的F , 并研究了 Cl 对测汞的影响共存元 的干扰
3 3
H BO 对各元 的影响, 建立了低压微波消解$ ICP-AES 法测定聚氯乙烯塑料
3 3
及其制品中PbCdCr 和Hg 的方法PbCdCr 和Hg 的检出限( 3R) 分别为:
01012010020100601020 LgP L, 相对标准偏差为015% ~ 410%, 回收率为
95%~ 101% 该方法可推广应用到其它塑料中PbCdCr 和Hg 的测定, 已应
用于实际的检测工作
: 电感耦合等离子体原子发射光谱法; 低压微波消解; 聚氯乙烯; Pb;
Cd; Cr; Hg
:O657.31 :A : 1000-0720(2007) 08-080-04
(PVC) -
Cl , HCl, ICP-
, ( AES PVC PbCdCr Hg
)
PbCdCr Hg
, 1
[ 1~ 4]
1. 1
, IRIS Adv Rad ERPS ICP-AES( Ther o Ele-
ental) : , CID ,
175~ 1050n , ,
Pb , , 0~ 200 rP in
CdCr Hg : 27. 12 MHz,
, 1150 W, (991996%) ,
ICP-AES 14LP in, 015 LP in, 165
[5,6] [7]
PdCd , FAAS Cd kPa, 130 rP in( 214 LP in) ,
ICP-AES PVC Cd 13 , 20 s,
[8]
CrPbBaAsSe
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