微处理器故障注入工具与故障敏感度分析 fault inject tool and fault sensitivity characterization for microprocessor.pdfVIP

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2017-08-18 发布于上海
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微处理器故障注入工具与故障敏感度分析 fault inject tool and fault sensitivity characterization for microprocessor

技1ecla术noloK专栏yColumn咿jl■‘ 微处理器故障注入工具与故障敏感度分析张英武，袁国顺 (中国科学院微电子研究所，北京100029) 摘要：总结了单粒子效应的各种表现形式，明确在集成电路抗单粒子加固时应着重考虑单粒子翻转和单粒子瞬变。通过分析、对比大量故障注入方法，设计了基于仿真的自动故障注入及分 bitRISC 析系统，具有模型准确、运行速度快、自动化程度高等特点。采用此系统分析了一款32 微处理器对单粒子翻转和单粒子瞬变两种故障的敏感度。通过注入约2×105个故障，保证了实验的统计意义。试验分析指出，在设计加固微处理器时应该着重考虑存储单元、时钟信号和关键模块。关键词：故障注入；单粒子效应；高可靠微处理器中图分类号：TN302文献标识码：A 文章编号：1003—353X(2008)07．0589．03 Fault ToolandFault Characterizationfor Inject Sensitivity Guoshun ZhangYingwu，Yuan MicroelectroniesChinese (Instituteof of AcademyofSciences，Beijing100029，China) Inalnformsof eventeffectweI_esummarized．andthe event and Abstract：The single single upsetsingle eventtransmissionwerefocusedwhen and somefault tools，a hardeningdesign．Byanalyzingcomparing inject automaticfault and hascharacteristicsofthe designed，which injectionanalysissystem(AFIAS)wag precise fault andautoimmunization．With fault was model，highspeed AFIAS，a sensitivity microprocessor’S SEUand thistoolabout2×105faultswere into analyzedbyinjecting SET．Basedon injectedmicroprocessor． The resultsshowhowto a statistics designhishreliabilitymicroprocessor． words：fault event Key inject；singleeffect；hi【ghreliabilitymicroprocessor EEACC：2250R；2560R