图形测试多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键 pattern-based testingthe key to parallel test efficiency in multisite analog and mixed-signal device testing.pdfVIP

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2017-08-18 发布于上海
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图形测试多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键 pattern-based testingthe key to parallel test efficiency in multisite analog and mixed-signal device testing.pdf

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图形测试多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键 pattern-based testingthe key to parallel test efficiency in multisite analog and mixed-signal device testing

电字工业 ·组装工艺与测试· 愚黜黾团图形测试：多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键 JackWeimer (泰瑞达，Eagle业务部) 摘要：多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石．一直以来，模拟和 Test 混合信号器件测试系统面临架构的不足致使并行测试效率(PTE：ParallelE伍ciency)降低。测试系统架构不断地发展寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进．产生更高的并行测试效率。关键词：图形测试；模似和混合信号；并行测试效率中图分类号：TN407 文献标识码：B Pattern—Based toParaUelTest in Key Ef!ficiency Testing：The Multisiteand DeVice AnalogMixed—SignalTesting JackWeimer Test (Teradyne，EagleB璐iIIe船Unit) Abstract：Multisiteisthe of for arld comerstone testing hi曲Volumeproductiontestingmarlyanalog deVice and test haVe mixed-si弘almanufacturerS．Historically，analogmixed—si印alsystemsstnlggled ParallelTest architectures witharchitecturaldeficienciesthatdiminish E瓶ciency(PTE)．Testsystem to to test seriesidentmesanddiscussesV2m- continueev01ve seekingimproveparallele伍ciency．This that of oustest hardwareandsoftwarc leVels paral- system designimpmVememsa代producing伊eater test lel e历ciency． andmixed Keywords：Pa仕em-BasedTest；Analog si印al；Paralleltestenicienc