MI4221019集成电路测试技术.c-微电子实验教学中心.docVIP

《集成电路测试技术》教学大纲 课程编号：MI4221019 课程名称：集成电路测试技术 英文名称： Testing Techniques of Integrated Circuits 学时： 30 学分： 2 课程类型：限选 课程性质：专业课 适用专业：微电子学 先修课程：数字集成电路,模拟集成电路 集成电路设计与系统集成 开课学期：7 开课院系：微电子学院 一、课程的教学目标与任务 目标：通过本课程的学习，掌握集成电路测试技术的基本知识，为后续课程学习打好基础。 任务：介绍数字系统测试和故障诊断技术的理论和技术，其中重点介绍测试向量的生成技术和方法以及测试向量的优化技术；数字系统可测性设计的基本概念和相关技术，其中对边界扫描设计的原理和有关标准IEEE 1149.1进行较详细的叙述。 二、本课程与其它课程的联系和分工 本课程的先修课程是数字集成电路和模拟集成电路。 三、课程内容及基本要求 （一）绪论（2学时） 具体内容：数字系统测试的发展概况，故障和故障模型，自动测试与故障诊断及检测，有关异或运算的一些问题。 1.基本要求 （1）了解数字测试的基本概念。 （2）了解故障和故障模型。 2.重点、难点 重点：故障分类，故障模型，故障诊断及检测。 难点：故障诊断及检测。 （二）组合逻辑电路的测试（7学时） 具体内容：伪穷举法测试，布尔差分法，组合电路的测试生成算法，特征分析法，因果函数分析法，随机测试生成技术，完全测试集的极小化。 1.基本要求 （1）了解组合逻辑电路测试的概念。 （2）掌握各种测试方法。 2.重点、难点 重点：组合逻辑电路的可控制性和可观察性。 难点：可控制性和可观察性。 （三）时序电路的测试（7学时） 具体内容：时序电路的功能测试，同步时序电路的测试生成，时序电路的组合化模型，九值算法及其改进。 1.基本要求 （1）了解时序电路测试的概念。 （2）掌握时序电路的功能测试方法。 （3）掌握时序电路的组合化模型。 2.重点、难点 重点：时序电路的扫描测试、自测试和功能测试。 难点：扫描测试和自测试。 （四）故障仿真（7学时） 具体内容：并行故障仿真，演绎故障仿真，并发性故障仿真，硬件仿真器。 1.基本要求 （1）了解故障仿真的概念。 （2）掌握故障仿真方法。 （3）学会应用硬件仿真。 2.重点、难点 重点：故障仿真的概念和方法。 难点：硬件仿真器的使用。 （五）可测性设计（7学时） 具体内容：可测性设计的意义和发展概况，可测性度量，改善组合电路可测性的一般方法，扫描电路设计，内测试，边界扫描技术和IEEE 1149.1标准，PLA的故障检测与可测性设计，可测性设计的工艺措施。 1.基本要求 （1）了解可测性设计的基本概念。 （2）掌握几种可测性设计的方法。 （3）了解PAL可测性设计技术。 2.重点、难点 重点：扫描电路设计，内测试，边界扫描技术，PLA的故障检测。 难点：PLA的故障检测。 四、教学安排及方式 总学时 30 学时，讲课 26 学时，多种教学形式 4 学时。 教学环节 教学时数 课程内容 讲 课 实 验 习 题 课 讨 论 课 上 机 参观或 看录像 小 计 绪论 2 2 组合逻辑电路的测试 6 1 7 时序电路的测试 6 1 7 故障仿真 6 1 7 可测性设计 6 1 7 五、考核方式 笔试（半开卷）。 各教学环节占总分的比例:平时测验及作业：30%，期末考试：70% 六、推荐教材与参考资料 杨士元，《数字系统的故障诊断与可靠性设计》(第二版)，北京：清华大学出版社，2000.4。 （执笔人：张玉明 马佩军 审核人：史江一） 3