单一失效机理引起的元器件贮存寿命评价方法研究 evaluation technique for long-term storage life of electronic components and devices caused by single failure mechanism.pdfVIP

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2017-08-13 发布于上海
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单一失效机理引起的元器件贮存寿命评价方法研究 evaluation technique for long-term storage life of electronic components and devices caused by single failure mechanism.pdf

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单一失效机理引起的元器件贮存寿命评价方法研究 evaluation technique for long-term storage life of electronic components and devices caused by single failure mechanism

电子产品可靠性与环境试验可靠性物理与失效分析技术 Voi#4 $o%4 Aug ., 2006 ELECTRONIC PRODUCT RELIABILlTY AND ENV IRONMENTAL T ESTING 年月第卷第期 2006 8 24 4 单一失效机理引起的元器件贮存寿命评价方法研究 ! 1 2 1 1 1 刘建恩云飞黄云杨丹 ! ! ! 信息产业部电子第五研究所广东广州 9 1. , 5 10610 西安电子科技大学微电子学院陕西西安 2. , 7 1007 1 摘要电子元器件长期贮存过程发生的失效是由多种失效机理共同作用的结果以器件贮存寿命整体为基 ! 7 础的寿命评价难度很大选择对器件贮存寿命影响最大的单一失效机理以失效物理为基础通过高加速应力 0 7 7 试验进行寿命评价研究获得的寿命可以较准确地反映器件真实的贮存寿命单一失效机理贮存寿命的研究是 7 0 元器件贮存可靠性工作的重要内容0 关键词元器件贮存寿命失效机理 ! 9 9 中图分类号! TB24 文献标识码! A 文章编号! 1672-5468 2006 04-0023-03 Evaluation Technigue for Long-term Storage Life of Electronic Components and Devices Caused by Single Failure Mechanism 7 1 2 1 1 1 LIU Jian 7 EN Yun-fei 7 HUANG Yun 7 YANG Dan (1. CEPREI 7 Guangzhou 5 10610 7 China 9 2. Microeietronics Institute 7 Xidian Univ. 7 Xi an 7 1007 1