增量调制系统译码实验的知识.pdfVIP

现代通信原理综合实验 实验七 增量调制系统译码实验 实 验 内 容 1.连续可变斜率增量调制（△M）译码实验 2.增量调制（△M）系统特性、指标测试实验 3.同等条件下的 PCM 与增量调制（△M）系统性能比较实验 一. 实验目的 1.加深理解连续可变斜率增量调制系统的电路组成与基本工作原理。 2.熟悉对增量调制编译码电路工作过程的检测和测试方法。 3.熟悉该系统在不同工作频率，不同信号频率和不同信号幅度下跟踪输入信号的情况。 4.掌握测量系统的过载特性、编码动态范围以及最大化信噪比等三大指标的测试方法。 二. 实验电路工作原理 图7-1是增量调制译码电路结构方框图。图7-2是电原理框图。图7-4是电原理图。 1.实验电路基本工作过程 由发端送来的编码数据信号加至信号开关K802的引脚，通过该开关的作用，把信号送到 U801 （MC34115）芯片的第13引脚，即接收数据输入端。本系统因为是译码电路，故CPU送 出低电平至U801（MC34115）的15引脚，使模拟输入运算放大器与移位寄存器断开，而数 字输入运算放大器与移位寄存器接通，这样，接收数据信码经过数字输入运算放大器整形 后送到移位寄存器，后面的工作过程与编码时相同，只是解调信号不再送回第2引脚 （ANF 端），而是直接送入后面的积分网络中，再通过接收通道低通滤波电路滤去高频量化噪声， 然后送出话音信号，推动喇叭。 系统工作时钟 斜 低 率 积 通 S(t) 取 极 分 滤 1 P(t) 样 性 2 接收数字信号 量 控 器 波 3 电 化 制 路 器 K001 电 电 路 路 斜率过载检测电路 斜率量值控制电路 图7-1 增量调制系统译码器电路结构方框图 40 实验七 增量调制系统译码实验 K801 1 64KHz 3 32KHz 2 解调时钟