X射线荧光分析软件 一、X射线荧光光谱仪（XRF）的应用 1、 贵金属 .DOC

X射线荧光分析软件 一、X射线荧光光谱仪（XRF）的应用 贵金属分析：珠宝店、典当、银行等行业 合金分析：钢材、有色金属、金属材料等行业 化合物分析：地质、矿产、陶瓷、塑胶等行业 RoHS分析：制造业有害元素分析等 镀层厚度分析：电镀/离子镀、金属表面加工、电子、半导体、PCB、饰品等 二、软件功能与优势 定性分析 模式识别 重叠峰分离 无标样、有标样FP法定量分析 理论影响系数法定量分析 背景FP法 化合物定量分析 镀层模式识别 9、无标样、有标样薄膜FP法厚度定量分析 10、薄膜背景FP法 11、对不规则形状样品、微小样品的测试 12、标样自最适合匹配 一、XRF行业应用 1、贵金属分析 XRF分析无损、快速、高精度，非常适合贵金属（金、银、铂、钯、铑、铱等）检测，对主体成分精度能达0.1%。广泛应用于珠宝店、典当、银行等行业。 2、合金分析 XRF能够快速分析合金中主体和微量元素，含量分析范围从数ppm~100%。适用于钢材、有色金属、金属材料等行业。 3、化合物分析 XRF只能直接检测元素含量，经过改良的分析软件可以间接分析出氧化物、硫化物、金属无机化合物（如CuSO4、CaCO3等）。适用于地质、矿产、陶瓷、塑胶等行业。 4、RoHS分析 各种制造业产品中有害元素Pb、Hg、Cr、Cd、As、Sb、Se、Ba、Cl、Br分析。 5、镀层厚度分析 金属镀层、合金镀层、金属氧化物/磷化物/硫化物镀层等。最多可分析6层镀层，厚度范围从0.01um~100um，相对误差3%。广泛用于电镀/离子镀、金属表面加工、电子、半导体、PCB、饰品等行业。 二、软件功能与优势 1、定性分析 1.1 一键式自动识别元素，对很弱的峰和严重影响的元素都能很好的识别，元素识别正确率在96%以上。并能对元素的存在可能性进行分级。 例如图一：图中是一钢铁样品，其中含微量的Ti，其Ka峰几乎被Fe的逃逸峰湮灭，而Kb峰则完全被V的Ka峰覆盖，一般人工识别就很可能会遗漏元素Ti。 （图一） 钢铁样品图谱 软件对样品成分元素的存在可能性分级。存在可能性分3个级别：有、可能、弱可能。有是指能肯定存在的；可能是指很有可能存在的，一般情况下可视为有对待；弱可能是指存在性不大，软件判别困难的，很有可能是其它元素的干扰。例如图二：还是图一中的钢铁样品，其中的Mn既被Cr干扰，又被Fe干扰，人工识别很容易将其遗漏。而本软件给出“弱可能”的判断，以引起注意。实际在后续的定量分析中，发现锰是有的，其剥离后的峰见图三。 （图二） 元素存在级别 （图三） 钢铁样品中Mn元素剥离谱 1.2 智能识别逃逸峰、合峰，在定量计算时予以扣除，提高了计算准确度。 而同类软件无法自动识别逃逸峰、合峰，只能依靠经验设置影响系数在计算时扣除，这种方法固然简便，但无法适应复杂多变的样品。 如图三：Fe的Ka逃逸峰正好落在Ti的Ka峰附近，如果不加以识别会误认为Fe的Ka逃逸峰就是Ti的Ka峰，这样会导致定量结果偏大。 2、模式识别 所谓模式识别就是识别待测样品的材质。要准确定量分析，首先就要正确定性样品的材质。有些样品的材质不是人工能够判定的，这就需要软件能够自动识别。 下面图四、图五分别是对PVC、PE两种塑料的模式识别结果，并给出来模式匹配程度值。 （图四） PVC塑料 （图五） PE塑料 3、重叠峰分离 元素特征峰之间往往存在重叠干扰，如何准确分离这是XRF分析的一大难题。很多软件采用的是重叠影响系数法，这是一种很不完善的方法，根本难以胜任复杂的情况。本软件采用卡尔曼滤波，只要不完全重叠，无论受多少干扰峰影响，都能准确的分离。 （图六）重叠峰剥离 4、无标样、有标样FP法定量分析 XRF是一种相对测试分析方法，其含量分析须依靠大量的参考标样。缺乏标样时，常规的工作曲线法根本无法正确检测。很多软件采用经验系数法进行数学校正，能在一定程度上解决标样差异的问题，但因X射线荧光吸收、增强效应的复杂性，数学校正只能在一定范围内适用，局限性很大。 FP法是将X射线荧光这一物理现象用数学公式描述出来，从根本上解决了吸收、增强效应，因此理论上是适合任何复杂成分样品的。这为真正意义上的无标样分析提供了可能。但FP法相当复杂，能够做好FP法的软件很少。 图七、图八分别是国标24号黄金标样的无标FP定量分析结果和1个参考标样FP定量分析结果。 （图七） 国标24号黄金标样无标FP分析 （图八） 国标24号黄金标样有标FP分析 结果对比表： 元素 实际含量(%) 无标样FP含量(%) 1个标样FP含量(%) Au 35.00 35.27 35.01 Ag 9.01 9.37