mi4221019集成电路测试技术 - 微电子实验教学中心.doc

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2017-09-06 发布于天津
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集成电路测试技术教学大纲课程编号课程名称集成电路测试技术英文名称学时学分课程类型限选课程性质专业课适用专业微电子学先修课程数字集成电路模拟集成电路集成电路设计与系统集成开课学期开课院系微电子学院一课程的教学目标与任务目标通过本课程的学习掌握集成电路测试技术的基本知识为后续课程学习打好基础任务介绍数字系统测试和故障诊断技术的理论和技术其中重点介绍测试向量的生成技术和方法以及测试向量的优化技术数字系统可测性设计的基本概念和相关技术其中对边界扫描设计的原理和有关标准进行较详细的叙述二本课程与其它课程的

《集成电路测试技术》教学大纲课程编号：MI4221019 课程名称：集成电路测试技术英文名称： Testing Techniques of Integrated Circuits 学时： 30 学分： 2 课程类型：限选课程性质：专业课适用专业：微电子学先修课程：数字集成电路,模拟集成电路集成电路设计与系统集成开课学期：7 开课院系：微电子学院一