VEGA3SBH扫描电镜及能谱一体化机.PDFVIP

深圳顺络电子股份有限公司 VEGA3SBH扫描电镜及能谱一体化机 主要应用于样品内外部的微观形貌观察、结构分析、缺陷检测、尺寸测量和成分分析等。适用于材料化工、 冶金矿产、电机电子、生物医学等行业领域。 仪器参数   电子源 钨灯丝 扫描电镜分辨率 3.0nm@30KV，8.0nm@3KV 扫描电镜放大倍数 6x～1,000,000x 能谱仪分辨率 133eV@MnKa 能谱元素分析范围 B5～U92 分析样品要求  粉末、块状固体（高度低于15mm，直径小于100mm）;样品为非磁性。 Rev.B 2015 联系方式：Tel ：0755分机2665), E-mail: central_lab@ 深圳顺络电子股份有限公司 高清晰度的形貌观察 1.提供块状样品表面、断口（截面）的微观形貌。 2.表征钢铁组织形态、镀层的致密度。 3.表征粉末、固态浆料晶粒大小、均匀度。 4.观察烧结材料的晶粒生长状况。 5.观察焊接锡须生长情况。 6.观察生物样品（动物毛发、植物种子、花粉等）的超微组织形态。 Rev.B 2015 联系方式：Tel ：0755分机2665), E-mail: central_lab@ 深圳顺络电子股份有限公司 内/外部结构分析 1.提供电子元器件内部微观结构、端电极组成。 2.观察成型材料内、外部结构。 3.表征聚合物的相形态结构。 电子元器件内部结构 端电极镀层结构 烧结材料晶粒生长状态 内/外部缺陷检测 1.观察样品内外部裂纹的萌生和扩展形态。 2.检查电子元件内部空隙、孔洞、气泡或杂质等缺陷。 3.观察焊接部位质量情况，零部件、组装件的界面结合或粘合情况。 绕线电感内部铜线变形 内部裂纹显微观察 上锡不良缺陷 自由精准的尺寸测量 满足无损的多种几何尺寸测量，元素包括点、线、面测量，提供多段加和的灵活测量方法，可测量 直线距离、圆半径、椭圆半径、规则和不规则形状面积、角度等。 粉体颗粒大小测量 锡须长度测量 晶粒面积测量 Rev.B 2015 联系方式：Tel ：0755分机2665), E-mail: central_lab@ 深圳顺络电子股份有限公司 多模式表征的成分分析 分析样品表面微区的元素及其含量，可提供点扫描、线扫描、区域扫描和面分布四种分析方式。测 定样品上某个指定点的化学成分、给定直线方向的元素含量分布情况、指定区域的成分（某种或多 种元素）分布情况。 点扫描 线扫描 区域扫描 cps/eV