试验二锁存器及触发器.DOC

实验二 锁存器及触发器 一、实验目的 1、掌握基本锁存器、JK、D等常用触发器的逻辑功能及其测试方法； 2、研究时钟脉冲CP的触发作用。 二、预习要求 1、预习教材相关内容，了解锁存器、触发器功能及动作特点。 2、确定实验线路连接，画出接线图，拟定实验必要的表格。 三、实验内容 基本锁存器功能 与非门（74LS00）按图连接成基本 锁存器，置位端和复位端接0/1开关，输出端Q和接LED。改变输入端的状态，测试并将测试结果填入下表中。与器真值表比较。 2. J-K触发器逻辑功能测试： （1）测试异步复位端和异步置位端的功能。 74LS112触发器的、、J、K接0/1开关，输出端Q和接LED，CP接手动单脉冲源。按下表要求，在、作用期间改变J、K、CP的状态，观察LED显示状态，测试并记录、对输出状态的控制作用。 （2）J-K触发器逻辑功能测试： 改变J、K的状态，并用、端对触发器进行异步置位或复位（即设置现态Q n）。按下表要求测试其逻辑功能并记录于表中。 J K CP Q n Q n+1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 0 1 （3）观察J-K触发器分频功能 74LS112按下图接线，J、K接高电平（1），CP接1KHz连续脉冲源，、接高电平（1）。用示波器同时观察并记录CP、Q端波形，验证2分频的功能。 3. D触发器74LS74逻辑功能测试： （1）测试异步复位端和异步置位端的功能。 74LS74一个触发器的、、D接0/1开关，输出端Q和接LED，CP接手动单脉冲源。按下表要求，在、作用期间改变D、CP的状态，观察LED显示状态，测试并记录、对输出状态的控制作用。 （2）D触发器逻辑功能测试： 改变D的状态，并用、端对触发器进行异步置位或复位（即设置现态Q n）。按下表要求测试其逻辑功能并记录于表中。 D CP Q n Q n+1 0 0 1 0 1 1 0 1 0 1 （3）观察D触发器分频功能 74LS74按下图接线，CP接1KHz连续脉冲源，、接高电平（1）。用示波器同时观察并记录CP、Q端波形，验证2分频的功能。 四、实验仪器 数字逻辑实验箱，示波器，74LS00，74LS112，74LS74。 五、实验报告要求 1．基本锁存器、JK、D触发器功能验证结论。 2. 阐述基本锁存器输出状态“不变”和“不定”的含义。 3. 总结、的作用。 4．说明触发器的分频作用。状态翻转的时钟边沿（即触发方式）和相关结论。 六、实验用元件介绍 锁存器和触发器是具有记忆功能的二进制存贮器件，是组成各种时序逻辑电路的基本器件之一。就触发器功能而言，有RS、JK、D、T、T触发器。就触发器结构而言，一般有主从、边沿之分。边沿型触发器有较好的抗干扰性能。D触发器和JK触发器都有TTL和CMOS集成产品。 1、基本锁存器 可由二个与非门所组成，如图所示。在相应的置位端（）或复位端（）加有效电平（信号），基本锁存器置位（Q = 1）或复位（Q = 0）。图示与非门组成的基本RS触发器，有效触发电平为低电平“0”，其功能见附表。 2、JK触发器 本试验用74LS112是主从型负沿触发(带预置端和清除端)、是低电平有效的直接置位端、直接复位端，该2引脚信号不受CP控制。主从型JK触发器的逻辑符号如图所示。 3、D触发器 74LS74是边沿型双D触发器，时钟CP上跳沿有效，即触发器初态和次态按CP的上升沿划分。74LS74的引脚如右上图，D触发器功能见附表，逻辑符号见上右图。 4 ( ( ( ( ( ( ( ( ( ( ( ( RS触发器真值表