电子显微镜观察高聚物断面样品制备方法.pdfVIP

33 4 电 子 显 微 学 报 Vol. 33 ，No. 4 第 卷 第 期 2014 8 2014-08 年 月 Journal of Chinese Electron Microscopy Society 文章编号:1000-6281 (2014)04-0377-05 电子显微镜观察高聚物断面样品的制备方法 1 2 ， 周广荣 童艳丽 ( 1． ， 200433 ; 聚合物分子工程 国家重点 实验室 复旦 大学高分子科学系 上海 2． ， 200025) 徕卡仪 器有限公司 上海 ， ， : 冷却脆断 离子切割和超 薄切 片等制样手段制备 高聚物样品 的断面 通过扫描 电镜或透射 摘 要 本文采用液氮 ， 。 电镜观察其断面结构 提出适合 维持 高聚物样品断面原貌的制样方 法 : ; ; ; 关键词 断面 电子显微镜 高分子样品 方法 :TG115. 21 + :A doi : 中图分类号 5. 3 ; TG115. 5 文献标识码 10. 3969 /j． 1000-6281. 2014. 04. 016 ， 对于很平整的高聚物样品进行表面微观观察 的塑性和韧性需要进行冷冻断裂 即将样品放在液 ， ， ［5 ～ 8］。一般5 min ( 时 扫描电镜可以很容易的解决这一问题 而在实际 氮中进行脆性处理 有些韧性稍强 ， 、 ) 科学研究中 很多样品如膜材料 丝材料或一些脆性 的样品还需要更长的液氮冷冻时间 左右将样品取 、 、 ， 。 或韧性材料的内部结构 相分布情况 涂层厚度及与 出瞬间折断 将断面朝上垂直粘牢 在液氮的低温 、 ， ， ， 基体结合情况 生长状态和填料等是否均匀等众多 作用下 一些高聚物样品处于脆性阶段 断口光滑 ， ， 。 微观结构很难通过表面进行详细的表征 必须将样 无任何污染 可真实反映断口的微观形貌 由于高 ， ， ， 品进行断开 露出真正的截面 按照