爬电比距法.PPT

附表 不同污秽地区瓷和玻璃绝缘子的k2值 1.380 1.343 1.266 1.181 k2 1/10 1/8 1/5 1/3 T/B 严重污秽 0.15 中污秽 0.08 轻污秽 0.05 清洁 0.03 污秽地区 SDD /mg/cm2 对于云广±800kV特高压直流输电线路，其额定电压UN为800kV，最高工作电压为1.02UN，即816kV，考虑试验结果的分散性以及一定的安全裕度，其悬垂绝缘子串的目标耐受电压为： 取安全裕度系数k1为1.05可得±800kV特高压直流输电线路目标耐受电压为856.8kV。因此，±800kV特高压直流输电线路垂直布置时，悬垂绝缘子串片数可由下式确定，即： 上式中：Uave为由均匀升压法试验得到的平均每片绝缘子的闪络电压，kV，参见附表I?14，按照线性关系取平均每片绝缘子的平均闪络电压；N为悬垂绝缘子的片数；σ％为试验结果的标准偏差，可以根据试验结果选择，一般来说应根据设计运行经验取σ％为7％；N取大于计算值的整数。因此，我们根据试验结果取标准偏差为5.0%，则式(11.13)简化为： 因此，根据重庆大学采用均匀升压法试验得到的试验结果(附表I?14)可得云广±800kV特高压直流输电线路的悬垂绝缘子配置片数如表 11.5所示。 附表 悬垂绝缘子配置片数(片) 76 66 61 LXZP-300 67 57 52 LXZP-300 95 80 74 LXZP-210 82 70 63 LXZP-210 96 79 71 XZP-210 89 72 65 XZP-210 149 148 149 XP-160 3000/70.1 109 105 105 XP-160 1000/89.8 72 61 57 LXZP-300 65 55 50 LXZP-300 89 77 70 LXZP-210 77 64 57 LXZP-210 92 76 68 XZP-210 85 70 61 XZP-210 121 113 114 XP-160 2000/79.5 97 92 91 XP-160 232/98.6 0.15/0.90 0.08/0.48 0.05/0.30 0.15/0.90 0.08/0.48 0.05/0.30 ESDD/NSDD /(mg/cm2) 绝缘子型式 H /P (m/kPa)) ESDD/NSDD /(mg/cm2) 绝缘子型式 H /P (m/kPa)) (b) 复合绝缘子长度选择 根据现有的试验研究，复合绝缘子闪络电压的极性效应并不明显，因此在进行绝缘子串长的选择时，可暂不考虑极性效应影响的校正。复合绝缘子长度的选择与瓷和玻璃绝缘子相似。 对于复合绝缘子，根据特高压输电工程的特点以及国内外的经验，式(11.12)中的σ%取7%，由此可得±800kV线路目标耐受电压为1033kV。 在大量试验研究中得到了50%闪络电压，对耐受电压的试验进行较少最大耐受电压。但大量覆冰绝缘子闪络和耐受试验研究结果表明，50%耐受电压与50%闪络电压之间相差2个试验结果的标准偏差，即2σ2。通过大量的试验，得到的试验结果的标准偏差σ2为7.58%。 由式(5.52)可知，复合绝缘子的污秽不均匀修正公式中的系数A为0.21，则知不同污秽地区复合绝缘子的k2值如表11.6所示。 附表 不同污秽地区复合绝缘子的k2值 1.210 1.190 1.147 1.10 k2 1/10 1/8 1/5 1/3 T/B 严重污秽 0.15 中污秽 0.08 轻污秽 0.05 清洁 0.03 污秽地区 SDD /mg/cm2 因此，云广±800kV直流特高压输电线路复合绝缘子长度可用下式确定，即 式中：Uave为由均匀升压法试验得到的复合绝缘子的闪络电压，kV，参见附表I?15；h为所选择的复合绝缘子目标长度，m；hs为被试复合绝缘子最短干弧距离，m。因此，根据±800kV直流复合绝缘子短样的试验结果可得，云广±800kV特高压直流输电线路在高海拔、污秽地区复合绝缘子长度如表11.7所示。 附表 云广±800kV直流输电线路在高海拔、污秽地区的复合绝缘子长度(m) 12.19 11.18 10.53 E 10.50 9.66 8.77 E 12.01 11.16 10.24 C 10.34 9.59 8.76 C 12.46 11.43 10.34 B 10.74 9.81 8.80 B 11.73 10.92 9.66 A 3000/70.1 9.92 9.27 8.27 A 1000/89.8 11.23 10.27 9.35 E 9.75 8.59 8.00 E 11.03 10.20 9.34 C 9.53 8.