电子测量技术(主编田华、刘斌、袁振东 第二版 西安电子科大版)课件:第6章 频率与时间测量04.pptVIP

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 6.4 EE3376型可程控通用计数器简介 6.4.1 EE3376型可程控通用计数器原理   图6.18示出了EE3376型可程控通用计数器的原理框图。   1. A、B输入通道   A 通道中输入保护电路包括由两只二极管组成的双向限幅电路及由一只稳压管等组成的源极跟随器,其作用是过压保护、阻抗变换及电平移位。放大整形电路由三级组成,其中第一级是差分放大器,后两级组成整形器。极性控制电路采用MC10102的“线或”结构,触发电平指示电路采用由E/T转换器MC10125组成的脉冲展宽器来实现。 图6.18 EE3376型可程控通用计数器逻辑原理框图   2. C输入通道   C通道由放大、分频及电平控制三大部分组成,其中放大器由五级ERB90组成,分频由SP8668完成。图6.19所示为C通道方框图。 图6.19 C通道方框图   3. 预定标   EE3376的钟频周期为100 ns,最大可测信号频率为10 MHz。为了测量高于10 MHz的信号频率,需进行预定标。   A 通道频宽为DC~120 MHz,C通道频宽为100 MHz~1.5 GHz。在C通道中,信号经放大、整形后通过SP8668预先进行分频。   对A、C通道进行选择是通过“线或”电路来完成的。信号通过通道选择后,对于10 MHz以下的信号可以直接进行测量;对高于10 MHz以上的信号必须通过MC10138再进行一次分频。这样,微处理器进行数据处理时,就必须进行预定标计算处理。   4. 主门电路   主门电路是实现倒数计数的关键部件,由微机送出各种不同的功能码,经由选择开关选择,来实现各种功能的测量。   5. 预选闸门电路   EE3376的预选闸门电路是由单稳电路T555组成的。单稳电路的脉宽受控于前面板上的可调电位器,因此闸门时间约在0.05 s~10 s之间连续可调。   测量时,当T计数器被触发后  输出(负跳变)去触发预选闸门单稳电路,等预选闸门单稳电路结束,微处理器检测到结束信号,便发出一个解除预备信号指令给E同步门,使其预备解除。   6. 计数电路   EE3376采用两块40位二进制计数器 LS7061和两块十六进制计数器 74LS93分别组成 E 、T计数器。其中LS7061包括32位二进制计数器、40位寄存器、扫描选通译码电路及8位三态门输出电路。微处理器接到测量结束指令后开始取数。   7. 送显电路   送显电路是由扫描驱动显示器7812构成的。   8. 取样率电路   取样率电路是由T555 组成的单稳电路。微处理器将测量结果运算送显后,启动取样率电路,经取样率延迟后,重新开始下一次测量。取样率延迟的长短由面板上的电位器调节控制。   9. 微处理器单元   微处理器单元对仪器的运行情况、数据交换和数据处理进行管理。该单元主要包括 CPU(Z80)、16 KB EPROM、8 KB RAM、键盘扫描管理器(8279)以及扫描驱动显示器(7218) 等。    10. GPIB通用接口   EE3376配置了GPIB接口,其通用性强,配合通用接口所需的应用软件,可以很方便地将该计数器接入自动测试系统。 6.4.2 EE3376型可程控通用计数器的使用   1. 面板功能   启动“POWER”键,接通电源,这时面板上除“LEVEL A”、“LEVEL B”两灯外,所有指示灯全亮,显示器显示全“8”1秒钟,然后显示本机型号“EE3376”。如机内插有接口板,则也显示该接口板的地址,即“AD03”(接口板的地址要求是00011)。最后仪器自动进入自校状态。因闸门时间是由前面板“GATE TIME”电位器控制连续可调的,所以进入自校状态后,显示器首先显示此时的闸门时间,然后显示自校测量结果。显示位数视闸门时间而定,当闸门时间为1 s时,显示应为10.000000 MHz。    当闸门时间大于10 s时,可以按“DISPL”键,灯亮时显示位数向左移动一位为0.0000000 MHz,并点亮溢出灯OVFL,“1”表示已溢出,这样可以不牺牲有用的有效位。   旋动“SAMPLE”电位器可改变显示时间。当顺时针旋至HOLD 位置时,显示数值为保持状态。   2. 功能键操作   功能键可以上下换挡,只要分别按↑、↓键即可。按一次键功能上(或下)移一次。   按“RESET”键可对微机重新进行初始化。在进行某一次测量时,如不需要继续而要重新测量时,可按下“CLEAR”键,此时仍进行原功能的测量。   进行单次测量时,将“GATE TIME(闸门时间)”旋钮逆时针方向旋转,听到“咔嚓”一声即选中MIN(单次)功能,然后可进行单次测量。   3. A通道频率测量(fA)、周期测

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