基于单成分被测物体的射束硬化校正算法.pdfVIP

第 33 卷 第 5 期 北 京 化 工 大 学 学 报 Vol. 33 , No. 5 2006 年 JOURNAL OF BEIJ IN G UN IV ERSIT Y OF CHEMICAL TECHNOLO GY 2006 基于单成分被测物体的射束硬化校正算法 1 2 3 叶侠娟 　王一多 　薛 　威 (1 北京印刷学院 , 北京　102600 ; 2 北京化工大学 理学院 , 北京　100029 ; 3 北京化工大学 北方学院 , 河北 燕郊　065201) 摘 　要 : 经典的 CT 重建算法基于 X 射线源为单色源的假设 ,而实际上由于工业 CT 机或医用 CT 机的 X 射线是多 色的 ,通常只能得到多色投影数据。若直接用多色投影数据来重建图像 ,就会出现射束硬化伪迹 ,这种硬化伪迹如 果不校正就会影响医学诊断和工业检测的结果。本文通过对计算机断层成像中射束硬化产生的原因分析 ,给出了 基于单成分被测物体的射束硬化校正算法 ,并对算法进行了数值模拟。 关键词 : 射束硬化 ; 硬化伪迹 ; 牛顿迭代法 中图分类号: 其中, S ( E) 为 X 射线的能谱分布。相应的投影值 引　言 为[ 2] 射束硬化校正是 CT 算法研究中的重要问题。 Emax ( ) μ( ) p = - ln S E exp - x , E d l d E ∫ ∫ 对于给定的待检测的单成分被测物体, 本文给出了 0 L 一种射束硬化校正算法, 可以较好的去除重建图像 ( ) 4 中的硬化伪迹。 在扫描区域中的被测物体为单成分物体时, 线 μ( ) [ 3] μ( ) 性衰减系数 x , E 是可以分离的 , 即, x , E = 1 　基本理论 ρ( ) μ ( ) ( )