S-5470系列光电流检测IC.PDF

S-5470系列 消耗电流极低 光电流检测IC © Seiko Instruments Inc., 2012 Rev.1.2_00 S-5470系列是使用CMOS技术开发的消耗电流极低的光电流检测IC。 可检测出外接光电二极管 (PD) 或者发光二极管 (LED) 生成的0.7 nA (典型值) 的光电流。并且，还具备了可检测出两个外 接光电二极管 (PD) 或者LED之间的光电流差的功能。 由于具有消耗电流极低、工作电压低的特点，因此最适用于电池驱动的小型携带设备。 特点 • 消耗电流极低 : IDD ≤0.1 nA (典型值) • 微小光电流检测 : IDET = 0.7 nA (典型值) • 工作电压范围广 : VDD = 0.9 V ~ 5.5 V • 光电流检测功能 : 可检测出外接光电二极管 (PD) 或者LED的光电流 • 光电流差检测功能 : 可检测出外接光电二极管 (PD) 或者LED的光电流差 • 外接元器件 : 1个或者2个外接光电二极管 (PD) 或者LED*1 • 无铅 (Sn 100%) 、无卤素*2 *1. 根据工作需要，外接元器件的PD或者LED的个数也不相同。 关于PD, LED的选定，请参阅 应用电路 的 3. PD或者LED的选定 。 *2. 详细内容请参阅 产品型号名的构成 。 用途 • 遮光检测 • 明暗检测 • 携带设备、无线设备的非接触开关 封装 • SOT-23-5 精工电子有限公司 1 消耗电流极低 光电流检测IC S-5470系列 Rev.1.2_00 框图 1. CMOS输出产品 VDD *1 *1 + INP 电流加算器 + *1 − 电流 转换器 逻辑选择 OUT INM 电流増幅器 IDET − *1 *1 VSS