基于DeltaRCS的RFID标签天线方向图测量方法 - 微电子学.PDFVIP

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2017-07-03 发布于天津
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基于DeltaRCS的RFID标签天线方向图测量方法 - 微电子学.PDF

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基于DeltaRCS的RFID标签天线方向图测量方法 - 微电子学

第卷第期微电子学 , 45 5 Vol.45 No.5 年月 2015 10 Microelectronics Oct.2015 췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍 ·测试与封装 · 基于的标签天线方向图测量方法 DeltaRCS RFID , 陆希贤全绍辉 ( , ) 北京航空航天大学电子信息工程学院北京 100191 : 。摘要标签天线方向图是标签的一项重要性能指标由于标签没有标准的接口进 RFID RFID , 。行馈电很难采用传统的天线测量方法测量标签天线方向图基于RFID标签的双站散射原理和 ( ) , , 雷达截面差值 ΔRCS概念提出了一种新的测试方法可以对封装好的商业标签进行天线方向图。 , 。测量通过对一种商用超高频标签进行实测与仿真证明两者的结果具有很好的一致性 : ; ; ; ; 关键词 RFID 方向图标签双站散射雷达截面差值中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( ) TN820.1 A 1004-3365201505-0689-04 ANewMethodforMeasurin theRadiationPatternofRFIDTa Antenna g g BasedonDeltaRadarCrossSection , LUXixian QUANShaohui ( , , , ) Schoolo ElectronicsandInormationEnineerin Beihan Universit Beiin 100191 P.R.China f f g g g y j g Abstract: Radiation atternofRFIDta antennaisoneofthemostim ortanterformanceindexesofRFIDta. p g p p g , Howeveritisdifficulttomeasuretheradiation atterno