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2017-07-03 发布于天津
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CT440-PDL 数据手册

CT440-PDL 光学部件测试仪 Yenista 快速 IL 和 PDL 测量主要特征 • • • O 波段型号：1260-1360 nm • SCL 波段型号：1440-1640 nm IL 和 PDL 测量时间 • 扫描范围 4 状态法扫描速率 6 状态法扫描速率 • • 测量范围在 1550 nm 处居中，采样分辨率为 5 pm，激光速度为 100 nm/s 。 • 可靠的 IL 和 PDL 测量 • • CWDM 滤光片上的 IL 和 PDL 测量以 10 pm 分辨率测量的 4 种 PDL 标准具技术参数 O 波段型号 SCL 波段型号波长光纤端口（前面板） ≥ 电气端口（后面板）