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电子电路抗干扰技术探究[摘 要] 在电子信息技术快速发展的今天，电子器件与电子电路的灵敏度大大提高，绝大多数电子电路都是在弱电流下工作的，尤其是CMOS集成电路更是在微安级电流下工作，电子电路很容易因干扰而导致工作失常。因此，干扰与抗干扰已成为当今电子电路设计中的一个非常重要的内容。本论文针对电网、地线、信号通道及空间电磁辐射等干扰源对电子电路产生的干扰进行研究 [关键词] 电子电路 抗干扰 一、干扰信号 在测控装置电路中出现的无用的信号称为噪声，当噪声使电路无法正常工作时，噪声就称为干扰。衡量噪声对有用信号的影响常用信噪比(S/N)来表示，它是指信号通道中有用信号功率PS和噪声功率PN之比或有用信号电压US与噪声电压UN之比。信噪比常用对数形式来表示，单位为分贝(dB) 。干扰信号可分为两大类型：传导型和辐射型 二、抗干扰措施 干扰的形成必须同时具备三个因素，即干扰源、干扰途径和对噪声敏感性较高的接收器。抗干扰从这三个方面入手 1、消除或抑制干扰源 噪声干扰来自于干扰源，只有仔细地分析其种类和形式，才能提出有效的抗干扰措施 （1）机械干扰 机械干扰是指机械的振动或冲击使检测装置中的元件发生振动、变形，使连接导线发生位移，使仪表指针发生抖动等。对于机械干扰主要采取减震措施来解决，例如采用减震弹簧或减震橡皮垫等 （2）热干扰 设备和元器件在工作时产生的热量所引起的温度波动，以及环境温度的变化等使电路参数发生变化，或产生附加的热电势等，从而影响检测装置的正常工作 对于热干扰，工程上常采取下列防护措施：在电路中采用温度补偿元件和采用差分放大电路、电桥电路等对称平衡结构来抗干扰，在测控环境中尽量在恒温室内进行，还可采用热屏蔽，即用导热性能良好的金属材料做成防护罩，将某些对温度变化敏感的元器件和电路中的关键元器件或组件，甚至整台装置包围起来，以使罩内温度场均匀和恒定，有效地防止热电势的产生 （3）光干扰 在测控装置中广泛使用着各种半导体元器件，由于半导体材料在光照作用下会激发空穴――电子对，使半导体元器件产生电势或引起阻值的变化，从而影响测控装置的正常工作 为了防止光干扰，将半导体元器件封装在不透光的壳体内，对于具有光敏作用的元器件，尤其应注意光的屏蔽问题 （4）湿度干扰 环境湿度增大会使绝缘体的绝缘电阻下降，漏电流增大；使电介质的介电常数增大，造成电容器的电容量增大；使电感线圈的Q值(品质因数)下降；使金属材料生锈等，势必影响测控装置的正常工作 为此在设计、制造和使用时应考虑潮湿的防护与隔离问题。例如，电气元件和印刷电路板的浸漆、环氧树脂封灌和硅橡胶封灌等 （5）化学干扰 对化学物品，如酸、碱、盐及腐蚀气体等，一方面通过其化学腐蚀作用损坏装置的元器件；另一方面与金属导体形成化学电势。因此，良好的密封和注意清洁，对测控装置是非常重要的防护化学干扰的措施 （6）固有噪声干扰 在电路中，电子元件本身产生的、具有随机性、宽频带的噪声称为固有噪声[1]。最重要的固有噪声源是电阻热噪声、半导体散粒噪声和接触噪声 电阻热噪声：任何电阻即使不与电源相接，在它的两端也有一定的噪声电压产生，这个噪声电压是由于电阻中的电子无规则的热运动引起的 散粒噪声：在半导体中，载流子的随机扩散以及电子――空穴对随机发生及复合形成的噪声称为散粒噪声。从整体看，散粒噪声使流过半导体的电流产生随机性的涨落，干扰测量结果。减小半导体器件的电流，减小电路的带宽，能减小散粒噪声的影响 接触噪声：接触噪声是由元器件之间的不完全接触，从而形成电导率的起伏而引起的，它发生在两个导体连接的地方，如开关、继电器触点、电阻、晶体管内部的不良接触等。接触噪声是低频电路中的主要噪声，减小流过触点的直流电流可减小接触噪声的影响 2、破坏干扰途径 干扰必须通过一定的干扰途径侵入测控装置才会对测量结果造成影响。干扰途径有“路”和“场”两种形式。凡干扰源通过电路的形式作用于被干扰对象的，都属于“路”的干扰，如通过漏电阻、电源及接地线的公共阻抗等引入的干扰。凡干扰源通过电场、磁场的形式作用于被干扰对象的，都属于“场”的干扰，如通过分布电容、分布互感等引入的干扰 （1）抑制以“路”形式侵入的干扰 1)通过泄漏电阻的干扰 元件支架、探头、接线柱、印刷电路以及电容器绝缘不良，使噪声源得以通过这些漏电阻作用于有关电路而造成的干扰称为泄漏电阻的干扰。被干扰点的等效阻抗越高，由泄漏而产生的干扰影响越大 要消除由泄漏电阻引起干扰的一种办法是使用接地保护环，所谓接地保护环是在印刷电路板上，制做一个接地的环状印刷电路，将高输人阻抗的元件电路及单元包围在环的里面，由泄漏电阻引起