JET-300 debug 常见 调试 繁体中文版 图文版.docVIP

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JET-300系列ICT是由臺灣捷智科技股份有限公司,眾多軟硬體開發工程師,集多年工作經念,緊跟時代在JET-100、JET200之後推出又一款高速度、高性能的電路板線上測試機,並響譽同行。本手冊為了配合JET-300說明書使用戶能及時掌握,更快、更好得使用ICT,處理治具的相關問題得心應手。 測試原理 硬體架構與功能 系統自我診斷與DEBUG功能 關於DEBUG 常見ICT誤判情況 ICT操作的一些修正方式,及日常維護 附:功能表命令樹狀結構圖及快捷鍵 在認識ICT之前首先瞭解ICT基本概念: ICT:線上測試機(In Circuit Tester), 電氣測試使用的最基本儀器.如同一塊功能強大的萬用表,但它能對線上電路板上的元件測試進行有效得隔離(Guarding)而萬用表不能。 ICT Test 主要是靠測試探針接觸PCB layout出來的測試點來檢測PCBA的線路開路`短路.所有零件的焊情況,可分為開路測試,短路測試`電阻測試`電容測試`二極體測試`三極管測試`場效應管測試`IC管腳測試 (testjet` connect check)等其他通用和特殊元器件的漏裝、錯裝、參數值偏差、焊點連焊、線路板開短路等故障,並將故障是哪個元件或開短路位於哪個點準確告訴用戶。(對元件的焊接測試有較高的識別能力) ICT測試與AOI測試區別: AOI技術則不需要針床,在電腦程式驅動下,攝像頭分區域自動掃描PCB,採集圖像,測試的焊點與資料庫中的合格的參數進行比較,經過圖像處理,檢查出PCB上缺陷。極短的測試程式開發時間和靈活性是AOI最大的優點。AOI除了能檢查出目檢無法查出的缺陷外,AOI還能把生產過程中各工序的工作品質以及出現缺陷的類型等情況收集,回饋回來,供工藝控制人員分析和管理。但AOI系統也存在不足,如不能檢測電路錯誤,同時對不可見焊點的檢測也無能為力。並且經過我們的調研,我們發現AOI測試技術在實際應用過程中會存在一些問題:1)AOI對測試條件要求較高,例如當PCB有翹曲,可能會由於聚焦發生變化導致測試故障。而如果將測試條件放寬,又達不到測試目的。2)AOI靠識別元件外形或文字等來判斷元件是否貼錯等,若元件類型經常發生變化(如由不同公司提供的元件),這樣需要經常更改元件庫參數,否則將會導致誤判。 VS ICT 則AOI無法進行電性方面的檢測,但ICT只要電路板每個電氣節點都有置針,皆可測試其電氣性能。 ICT測試與AXI測試區別:AXI技術是目前一種相對比較成熟的測試技術,其對工藝缺陷的覆蓋率很高,通常達97%以上。而工藝缺陷一般要占總缺陷的80%-90%,並可對不可見焊點進行檢查,VS ICT AXI技術也不能測試電路電氣性能方面的缺陷和故障。 ICT測試與FUNCTION測試區別: ICT測試又為靜態測試(不通電),FUNCTION測試又為動態測試(通電),如:測板Short,FUNCTION測試很容易將元件燒壞。ICT能夠有效地查找在PCBA組裝過程中發生的各種缺陷和故障,但是它不能夠評估整個線路板所組成的系統在時鐘速度時的性能。而功能測試就可以測試整個系統是否能夠實現設計目標,它將線路板上的被測單元作為一個功能體,對其提供輸入信號,按照功能體的設計要求檢測輸出信號。這種測試是為了確保線路板能否按照設計要求正常工作。所以功能測試最簡單的方法,是將組裝好的某電子設備上的專用線路板連接到該設備的適當電路上,然後加電壓,如果設備正常工作,就表明線路板合格。這種方法簡單`投資少 VS ICT FT不能自動診斷故障。 測試原理 ● Open/Short測試:將一片Sample板置於Fixture上,進行Pin對Pin學習(學習標準20Ω),Test時進行比較R〈10Ω判為Short,R〉80Ω判為Open。 即Short:10Ω Lrean:20Ω Open:80Ω 此標準為系統默認設置(可更改)。 對電子測量有幫助的電路分為兩類:1`產生測量參數(電壓`電流);2`用來制約電路中已有的電壓和電流。 ● GUARDING A R1 Rx R2 G B 萬用表量測電阻Rx時,∵Lx=Is-I1≠Is ∴Vx/Is≠Rx。 若在將A點電位Va,送到G點,令Vg=Va Ir1=(Va-Vg)/R1 ∴Ir1=0 Is=Ix

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