AttolightCL探索实现定量测量和高空间时间分辨率的阴极荧光分析系统.PDFVIP

投身新阴极荧光革命 Attolight CL / 探索：实现定量测量和高空间时间分辨率的阴 极荧光分析系统 概述 Attolight CL系统是首个实现定量测量的阴极荧光分析系统。它能提供：300 µm直径的视 场，优于10nm的空间分辨率，以及一个可选的10ps的高时间分辨率的模式。 Attolight CL系统自带有集成了光镜的扫描电子显微镜。这里，光镜被嵌入在扫描电镜的电子 物镜，使两者的视场相互匹配。获取阴极荧光图从未如此简单：无需调准光路，光镜的存在 帮助完成了样品定位。系统经过优化，在不牺牲扫描电镜性能的同时获得了优越的阴极荧光 性能。它提供了一个优秀的光学光圈 (f/0.5) ，和在整个视场范围内恒定的高光子收集效率。 同时，它工作在低电子束的能量范围内 (3-10kV) ，可获得更高分辨的阴极荧光图。 Attolight CL系统是当前市场上唯一能实现定量测量不同样 品的阴极荧光发光的系统。它独特的发现超痕量杂质，和 发现某些在其他成像模式下不可见的晶体缺陷的能力，为 研究及开发半导体材料、荧光粉、陶瓷、岩石和玻璃提供 了新的可能。 它的6- 自由度位移系统保障您的试样实现以1nm为步长的 任意定位。对于某些需要更深入了解材料基本性质的研 究，或者要求更高阴极发光效率的研究，可选择安装纳米 定位冷台。它不仅可以实现20K到300K之间的温度控制， 它的专利机械设计还最大限度得降低了试样的漂移和震 动。 Attolight CL系统还是第一个具有时间分辨选项的阴极荧光 分析系统，可实现无与伦比的10ps的时间分辨率。时间分 辨的阴极荧光分析系统将是研究光电材料载流子动力学和 寿命的完美工具。 主要优点 – 零调准：获得专利的消色差光学显微镜嵌入于系统自 – 任意移动：创新的 6- 自由度纳米定位台，移动精度可 带的扫描电镜中 达1nm – 毫不妥协：空间分辨率可达 10nm, 在3kV至10kV范围内， – 可选的创新低震动冷台：实现20K到300K之间的测量 无论是连续模式还是时间分辨模式，都可实现同样高 – 光学 hub ：方便Attolight CL系统的仪器集成于更大的光谱 的分辨率 测量系统 – 试样基准：300µm直径的大视场，成就了定量阴极荧 – 可选的时间分辨阴极荧光 (TRCL) 模式：优化的脉冲操 光测量