JTAG接口介绍.pdfVIP

测试时钟 TCK 9 测试模式选择 TMS 7 测试数据串行输入 TDI 5 测试系统复位信号 nTRST 3 接地 GND 14 、10 、8 、6 、4 、2 接电源 VCC 13 、1 述 描 称 名 脚 接口定义引 JTAG 针 14 接口定义：JTAG针 14 定义分别如下所示。 针接口，其 20 针接口和 14 接口的连接有两种标准，即 JTAG 简洁高效的手段。目前 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种 JTAG 通过 器件进行编程等。FLASH 统编程）功能，如对 在系 Programmable In-System （ ISP 接口还常用于实现 JTAG 个器件分别测试。 链，能实现对各 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 ，分别为测试模式选择、测 TDO 、TDI 、TCK 、TMS 线：4 接口是 JTAG 准的 器件等。标 FPGA 、DSP 、ARM 协议，如 JTAG 目前大多数比较复杂的器件都支持 测试工具对内部节点进行测试。JTAG ，测试访问口），通过专用的 Port Access Test （ TAP 片内部封装了专门的测试电路 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯 JTAG 用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， 要是一种国际标准测试协议，主 ) ，联合测试行动小组 Group ActionTest JTAG(Joint 11 TDO 测试数据串行输出 12 NC 未连接 20 针 JTAG 接口定义引 脚 名 称 描 述 1 VTref 目标板参考电压，接电源 2 VCC 接电源 3 nTRST 测试系统复位信号 4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 接地 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 RTCK 测试时钟返回信号 13 TDO 测试数据串行输出 15 nRESET 目标系统复位信号 17 、 19 NC 未连接 下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口： 在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG 接口调试S3C4510B， 在系统上电前，首先应检测JTAG 接口的 TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO 信号是否已与 S3C45