干涉法测量双层树脂基材料内部的压缩位移场分布.pdfVIP

第 22 卷第11 期 光学精密工程 Vo l. 22 No.11 2014 年 11 月 Optics and Precision Engineering Nov.2014 文章编号 1004-924XC2014) 11-2923-07 干涉法测量双层树脂基材料内部的压缩位移场分布 周延周\刘运红，刘羽飞，徐金雄，章 玄 (广东工业大学自动化学院，广东广州 510006) 摘要:建立了基于迈克尔逊干涉结构的深度分辨倾斜激光波数扫描干涉测量系统，对双层树脂基复合材料样品的压缩位 移场分布进行了测量及分析。首先，采用分布反馈CDFB)半导体激光器对双层树脂基复合材料样品进行波数扫描干涉 测量;然后，采用随机采样傅里叶变换CRSFT)计算双层树脂基复合材料样品加载前后的相位差;最后，运用解卷绕算法 对材料样品加载前后的相位差进行解卷绕，计算出各表面压缩位移场的分布。实验结果表明，压缩位移场分布的测量精 度达到土100 nm，深度方向的轮廓分辨率约为 0.41 mm，最大测量深度约为 52 IDIDo 该方法能够准确测量出树脂基复合 材料的压缩位移场分布，测量时不受树脂基复合材料内部切面弹性模量的影响，具有测量精度高，系统稳定，抗干扰能力 强等特点。 关 键 词:泼数扫描干涉术;树脂基复合材料;压缩位移场 中图分类号:TB332 i TH744. 3 文献标识码:A doi:10. 3788/0PE. 2014221 1. 2923 Measurement of compression displacement fields in duallayer epoxy composites by interferometry ZHOU Yan-zhou , LIU Yun-hong , LIU Yu-fei , XU Jin-xiong , ZHANG Yun (Faculty 0/ Automation , Guangdong University 0/ Technology , Guangzhou 510006 , China) 祷 Corresponding author ， ιmail :0户tics. zhouyanzhou@qq. com Abstract: A tilt depth-resolved wavenumber-scanning Michelson interferometer was built up to measure and analyze the compression displacement field distributions on the fore , middle and rear surfaces of dual layer epoxy composites. A Distribution Feedback (DFB) diode laser whose wavenumber could be modulated by the temperature was used to perform the wavenumber-scanning interferometric measurement for the dual layer epoxy composites. A Random-Sampling Fourier Transform (RSFT) was designed to evaluate the phase differences of the dual layer epoxy composite samples before and after applying loads. Finally , the unwrapping algorithm was used to unwrap the phase differences for the samples before and after applyin