基于性能退化数据的金属化膜电容器可靠性评估-电子学报.PDF

第 2 期 电　　子 　　学 　　报 Vol . 33 　No . 2 　2005 年 2 月 ACTA ELECTRONICA SINICA Feb . 　2005 　 基于性能退化数据的金属化膜电容器可靠性评估 赵建印 ,刘 　芳 ,孙 　权 ,周经伦 ( 国防科学技术大学人文与管理学院系统工程研究所 ,湖南长沙 410073) 　　摘 　要 : 　在对激光惯性约束聚变试验装置所用金属化膜脉冲电容器进行可靠性分析时 ,利用假设其寿命分布为 Weibull 分布的传统可靠性分析方法所得结果不能满足工程要求. 作者通过分析电容的退化机理 ,给出了一个该型电 容器的寿命分布模型 ,模型的求解是利用电容器的退化数据进行的 ,它具有比Weibull 分布模型更为精确的特点 ,在工 程实践中使用该模型对该型电容器进行可靠性分析可以大量的节约试验成本且结果精度更高. 关键词 : 　金属化膜电容器 ; 可靠性 ; 退化失效 ; 惯性约束聚变 ( ICF) 激光装置 中图分类号 : 　TB114 . 3 　　　文献标识码 : 　A 　　　文章编号 : (2005) Reliability Estimate of Metallize dFilm Pul se Cap acitor from De gra dation Data ZHAO Jianyin ,L IU Fang ,SUN Quan ,ZHOU Jinglun ( System Engineering Institute , N ational University of Def ense Technology , Hunan , Changsha 410073 , China) Ab stract : 　High energy density selfhealing metallizedfilm pulse capacitor is the key component of inertial confinement laser fusion facility. Generally ,the Weibull distribution model is adopted as lifetime distribution to analyze the capacitor reliability ,but the results can not satisfy the demands and the cost of tests is very high . By analyzing degradation mechanism of metallizedfilm capacitor , this paper uses nonhomogeneous compound Poisson process to describe performance degradation process ,and then presents a life distri bution model of metallizedfilm pulse capacitor . Using this model ,we can analyze the capacitor reliability through degradation data . This technique can not only assess and verify reliability level of the capacitors but also save tests cost . Key wor