[机械标准]JBT 8371-1996 容栅线位移测量系统数显单元0.01mm.pdfVIP

J42 JB/T 8371－1996 容栅线位移测量系统 数显单元 0.01mm 1996-04-22 发布 1996-07-01 实施 中华人民共和国机械工业部 发 布 JB/T 8371－1996 前 言 本标准参照电子数显卡尺国家标准的有关规定，根据容栅线位移测量系统的工作原理确定数显单元 的各项技术参数。 数显单元属电子组件，因此试验规程引用了国家标准电工电子产品基本环境试验规程。 本标准适应于容栅节距为5.08mm的数显单元，但对于能达到本标准规定的各项技术要求而容栅节 距不同的数显单元同样适应。 本标准的附录A是标准的附录，它规定了数显单元的检验方法。 本标准自1996年7月1日起实施。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会提出并归口。 本标准由合肥微型计算机应用技术研究所负责起草，航天工业总公司101所，上海量具刃具厂参加 起草。 本标准主要起草人：王昌纯、花海安、蒋 锐。 中 华 人 民 共 和 国 机 械 行 业 标 准 容栅线位移测量系统 JB/T 8371－1996 数显单元 0.01mm 1 范围 本标准规定了分辨率为0.01mm的容栅线位移测量系统用数显单元的术语、型式、技术要求、检验 规则及标志和包装。 本标准适用于容栅节距为5.08mm，示值范围为－999.99~999.99mm或－9999.99~9999.99mm的容栅 线位移测量系统用数显单元。 2 引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均 为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准必威体育精装版版本的可能性。 GB 2423.3—87 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca：恒定湿热试验方法 GB 2423.5—87 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ea：冲击试验方法 GB 2423.10—87 电工电子产品基本环境试验规程 试验Fc：振动(正弦)试验方法 GB 2423.22—87 电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法 GB 2828—87 逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查) GB 2829—87 周期检查计数抽样程序及抽样表(适用于生产过程稳定性的检查) 3 定义 3. 1 数显单元 由专用大规模集成电路、副栅和显示器等构成的组件。 3. 2 容栅 由主栅、副栅构成的一组电容式位移传感器。 3. 3 主栅 容栅式位移传感器的一极、栅条间距与副栅间距相匹配，主栅的总长度由测量系统的测量范围确定。 3. 4 副栅 容栅式位移传感器的另一极，栅条上分别加载有相位不同但按周期变化的激励电压信号，栅条间距 由容栅线位移测量系统原理的要求而定。 3. 5 容栅节距 副栅上每一周期激励电压信号所加载的栅条间距总和或与其对应的主栅条间距。 3. 6 极限移动速度 数显单元在测量系统正常工作条件下能进行正确测量的最大移动速度。 3. 7 容栅测量系统 由数显单元和主栅构成的能进行位移测量的一种装置。 机械工业部 1996-04-22 批准 1996-07-01 实施 1 JB/T 8371－1996 4 型式结构 4. 1 基本结构 典型的金属屏蔽型数