[机械标准]JBT 7369-1994 机械密封端面平面度检验方法.pdfVIP

J 22 JB/T 7369 －1994 机械密封端面平面度 检 验 方 法 1994-07-26 发布 1995-07-01 实施 中华人民共和国机械工业部 发 布 中华人民共和国机械行业标准 机械密封端面平面度 JB/T 7369 －1994 检 验 方 法 1 主题内容与适用范围 本标准规定了机械密封端面平面度的检验装置、检验程序、平面度测定值的判读等内容。 本标准适用于采用单色光源的光学法检验机械密封环端面平面度。 2 术语 2. 1 干涉图 光波干涉产生的干涉条纹(亮带或暗带)所组成的图形。 2. 2 干涉光谱带(光带) 干涉图上的暗带。 3 检验装置 3. 1 推荐使用的检验装置结构见附录B(参考件) 。 3. 2 光源应为单色光源。 3. 3 检验用光学平晶应为一级精度(其平面度应在 0.02～0.10 μm 之间) ，光学平晶的直径应大于被 检密封环端面的外径。 3. 4 装置放置在干燥、洁净、避免振动干扰的工作间内。 3. 5 装置要有一定的保护元件，避免光束直接照射到观察者的皮肤或眼睛。 3. 6 如果采用反光镜观察，应保证反光镜没有变形和失真。 4 检验程序 4. 1 检验时，环境温度应控制在 20 ±5℃。 4. 2 打开平面度检测仪的电源开关，预热至灯管充分发光。 4. 3 清除被检密封环端面和光学平晶表面上的纤维、颗粒、油渍、水汽等污物，且使密封环端面和光 学平晶表面不受损伤。 4. 4 将被检密封环轻轻放置在光学平晶上(或将平晶轻轻放置在密封环上) ，使密封环端面和光学平晶 紧密接触，判读光谱带数时不应使其受到附加外力的作用。 4. 5 通过镜面观察密封端面的干涉图形(或透过光学平晶观察密封端面上的干涉图形) ，判读干涉光谱 带。 5 平面度测定值的判读 5. 1 平面度测定值的判读按附录A(补充件) 的规定。对于附录A 未含的图形，判读者应在正确理解应 用光干涉原理的基础上，参照附录A 的图例进行判读。 机械工业部 1994-07-26 批准 1995-07-01 实施 1 JB/T 7369 －1994 5. 2 球形凸面和球形凹面的确定 5. 2. 1 观察干涉图由上向下移动眼睛，若干涉光谱带向圆心移动，则为球形凹面；若干涉光谱带向外 径移动，则为球形凸面。 5. 2. 2 将平晶放在密封环上，用手指轻轻地在平晶外边上加压，若干涉光谱带围着手指弯曲，则为球 形凸面；若干涉光谱带向手指外弯曲，则为球形凹面。 5. 3 平面度的测定值的计算公式为： Δ=0.5N λ 式中：Δ——平面度的测定值； N——干涉光谱带数； λ——单色光波波长。 2 JB/T 7369 －1994 附 录 A 常见干涉光谱带图示例 (补充件) A1 一条光带图示见图 A1 。 图 A1 A2 二条光带图示见图 A2 。 图 A2