LCDMura缺陷的B样条曲面拟合背景抑制.PDF

第 41 卷第 2 期 光电工程 Vol.41, No.2 2014 年 2 月 Opto-Electronic Engineering Feb, 2014 文章编号：1003-501X(2014)02-0033-07 LCD Mura 缺陷的 B 样条曲面拟合背景抑制 1 1 2 2 1 李 坤 ，李 辉 ，刘云杰 ，梁 平 ，卢小鹏 ( 1. 电子科技大学 航空航天学院，成都 611731 ； 2. 四川出入境检验检疫局机电处，成都 610041 ) 摘要：针对机器视觉检测 TFT-LCD Mura 缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题， 提出一种基于 B 样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下，采用双三次 B 样条曲面拟合算法拟 合出背景，并添加光顺项调整拟合精度，用原始图像减去拟合背景，从而消除亮度不均匀背景对缺陷分割造成的 影响。为提高算法速度，对原始图像进行分块拟合，并将双三次 B 样条函数分解为一元函数求解，减小了计算量， 同时避免了对原函数求解时容易出现的病态解问题。实验结果表明，该算法准确、高效。 关键词：Mura 缺陷；亮度不均匀；B 样条；曲面拟合；背景抑制 中图分类号：TP391.4 文献标志码：A doi：10.3969/j.issn.1003-501X.2014.02.006 Background Suppression of LCD Mura Defect Using B-spline Surface Fitting 1 1 2 2 1 LI Kun ，LI Hui ，LIU Yunjie ，LIANG Ping ，LU Xiaopeng ( 1. School of Aeronautics and Astronautics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 611731, China; 2. Sichuan Entry-Exit Inspection and Quarantine Bureau, Chengdu 610041, China ) Abstract : A background suppression method based on B-spline surface fitting was proposed to solve the problem of the accuracy of Mura detection, which is often caused by the uneven brightness and complex background when employing machine vision on Mura detection of TFT-LCD. Under the constraint of least square criterion, bicubic B-spline surface