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依于FPGA应用程序测试简介秦洁电气工程和计算机系奥本大学，36849-5201?Broun，200电子邮件：qinjie1@auburn.edu摘要本文给出了一个简短的依赖于FPGA应用程序测试。与传统的比较独立于应用的FPGA测试目的是测试一个FPGA芯片资源，依赖于FPGA应用程序只有对特定的上资源进行使用实现测试。引言FPGA设有在现场配置实现任意实时所需的功能。FPGA可以帮助人们实现比较传统特定应用集成电路（ASIC）的更快设计周期，降低开发成本和减少时间到市场。因FPGA被广泛应用于如网络，存储系统，通信，自适应计算。FPGA的测试需要从适用的ASIC解决方案不同。文献中有几种不同的FPGA测试策略。中讨论了一个基于几个应用电路和外部测试仪提供的配置行使他们的每个专门开发的测试向量电路。?“第二个战略的外部测试技术利用定期的内部结构和FPGA的可重构并发检查其各个组成部分?-?配置逻辑块（CLB）和互连。ORAs）。 基本上以上这三种尽可能详尽测试方法，所有操作模式可能CLB和其他FPGA元件互连。这样做有理由相信，该装置通过测试正确操作无论在外地实现它的功能。这样的测试策略通常采用的芯片制造商这可以被称为独立于应用程序测试，（因此，它也被称为生产测试）。 不过也有与应用无关而与FPGA测试相关的一些问题。一个是它的低效率低下有关定时检测故障，因为它甚至是不可能的测试所有可能的互连的一小部分，可能会出现在用户定义的模式配置。另一个是降低FPGA供应商的产量。事实上，一些不通过独立的应用程序具体的设计的FPGA芯片，因为设在一些地方的缺陷测试仍然可能不使用这些设计。 基于这样的事实，依赖于应用程序的测试概念被引入FPGA的测试深入研究和讨论。关键点是依赖于应用程序的测试，只有由一个特定的配置中使用的资源进行测试，因此与应用程序无关的FPGA测试的缺点可避免。通过该计划的使用，因此在测试FPGA中不仅将用于执行测试时间大大降低，而且FPGA供应商可以受益于产量增加。因为从它获得的直接利益，这种依赖应用程序测试技术已被Xilinx通过。 本文首先介绍依赖于应用程序的FPGA测试技术之一的建议。其余部分结构如下，第2节是一些有关依赖于应用程序FPGA测试背景信息。第3节给出了一个引进多配置简短的策略（MCS），分别在第4和第5对 [1]中提出的互连测试和CLB的MCS测试进行了详细讨论。而第6节总结了这份论文。 2.背景 基于FPGA的静态RAM组成的二维数组的配置逻辑块（CLB），可编程互连，可编程输入/输出模块（IOB的）。事实上的一个特定的用户应用程序FPGA芯片是由应用与它们每个足够小几个部分所提供合适的CLB编译器软件FPGA供应商的要求来划分，在一个CLB实施的每一个部分，最后通过所有使用的一个CLB连接可编程互连网络。只有当所有使用可编程FPGA芯片资源通过正确的应用程序配置功能，应用程序才可以在芯片上良好运行。为了讨论的依赖于应用程序FPGA测试，重要的是要提供一些有关的故障模式的详细信息来广泛应用和研究FPGA的测试。 桥接故障：故障代表短一组信号之间。逻辑值可以模拟短路净1主导（或桥），0显性（桥），或不确定的，取决于在技术该电路。在FPGA中过渡性的检测在一个依赖于应用程序的互连故障网络研究中互连桥接故障是最常见的故障模式。 停留在故障：故障是仿照信号线分配一个固定值（0或1）电路和最流行的形式是单停留在故障。它的显着之一发生的故障模式互连。 研究卡住，在故障发生在互连的应用程序依赖于FPGA芯片，并提出了一些方法来检测他们。 时延故障：故障原因组合电路的延迟超过时钟期。由于延误造成的联网可以占到70％的FPGA时钟周期和可编程互连的大型的主要来源传播延迟的变化，测试延迟在FPGA中的故障，应侧重于过分拖延在互联网络。在C详尽测试（combinationally-exhausive测试）目标提出的检测延迟在互联网络的故障。 因为一个可编程的FPGA芯片可以在现场实现一个任意功能，FPGA测试可以很容易地通过功能测试的方式进行，可编程资源的功能缺陷在于一个FPGA芯片也用于在FPGA测试。 互连的缺陷：这种缺陷通常可以仿照桥接故障或/和坚持，在断层。[1]和[12]分别研究了每一个发生在互连故障。 CLB的缺陷：在CLB的基本单位是一个FPGA芯片。它通常包含一个内置的查找表（LUT），它可以被配置来实现对于一个给定的任何可能的组合输出输入数量。 CLB可以被检测故障通过功能测试的CLB。 OB的缺陷：典型的IOB的有几个以及相关的可编程功能路由/ FPGA的核心资源。如果IOB的是错误的，与信息交流系统中的其他