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作 业 文 件 文件编号 消光比测试仪使用说明 版本/修订 页码 　1/3 1 目的 为了更好地让员工使用消光比测试系统。 2 适用范围 本说明适用于消光比测试系统的使用。 3 名词理解 消光比是衡量激光晶体性能优劣的重要指标，它的定义如下：将晶体放置在两平行偏光镜间和两正交偏光镜间，使光源从晶体一端入射，在出射端测试光功率，分别得两个值P1∥和P2⊥，消光比即为P1∥和P2⊥之比取对数乘以10，单位为dB,测量消光比的方法一般是按照定义来测量透射光强，再加以计算，可得消光比。 消光比是表征光学性能的主要物理参数之一，若光学晶体内部残留有应力，或热不均匀引起的应力，会使属于各项同性物质出现双折射，表现出各项异性，通过消光比的侧量，可以衡量光学晶体由于残留应力双折射造成的退偏度。 4 内容 4.1 消光比测量系统工作原理 1、激光器 2、扩束器 3、可变光栏 4、起偏器 5、样品 6、检偏器 7、探测器 8、显示仪器 检测晶体消光比方法主要有：双光路法、波片法和正交偏光法，我们采用的是正交偏光法来测量Nd3+：YAG的消光比，我们系统有四大部分：发射端、晶体 作 业 文 件 文件编号 消光比测试仪使用说明 版本/修订 页码 　2/3 及光学系统、接收端、测量端。发射端用：LD半导体激光器辐射635nm激光，晶体及光学系统部分有准直光学系统、可变光阑、起偏器、晶体盒检偏器构成，接收端为光电转换探测器（PIN管）和放大电路部分，测量端主要为计算机。 正交偏光法，即用起偏器与检偏器设置平行和垂直方向来检测投射光信号大小，调制电源为半导体激光器（LD）提供频率1KHZ的稳流驱动，LD输出为频率1KHZ的调制光，经过起偏器，光学晶体和检偏器到达PIN探测的是频率1KHZ的偏振光，则PIN输出为频率1KHZ的调制电信号，调制电源同时给锁相放大器提供同频的电压参数信号，锁相放大器只响应同频率的电信号，系统结构图入下： 4.2 消光比系统操作步骤 4.2.1 开启电源及激光器，等待光源稳定 4.2.2 测量系统消光比 1）调整检偏器，使测量仪成正交偏光系统，测量记录最小光强为I⊥。 2）将检偏器旋转90°，使测量系统成平行偏光系统，测量并记录最大透射光强I∥。 3）将I⊥和I∥代入公式： EXR系统=10log（I∥/I⊥）dB 4.2.3测量晶体消光比 1）调整测量系统成正交偏光系统，记录透射光强I⊥′。 2）将被测晶体放入测试光路中，调整载物台，使棒与光束同轴，以棒轴为轴旋转被测棒，测量并记录正交偏光系统透射光强的最大值I⊥″。 3）将检偏器旋转90°，使测量系统成平行偏光系统，测量并记录透射光强I∥′。 作 业 文 件 文件编号 消光比测试仪使用说明 版本/修订 页码 　3/3 4）将I⊥′, I⊥, I∥′代入公式 EXR晶体=10log[I∥″/（I⊥″-I⊥′）]dB 即可得晶体消光比。 ----------------------------精品word文档 值得下载 值得拥有---------------------------------------------- ----------------------------精品word文档 值得下载 值得拥有---------------------------------------------- ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 7 8 5 4 6 2 3 1 PIN管 信号放大电路 检测装置 光学系统 光学系统 检偏器 晶体 起偏器 LD光源