《基础电子技术》7.1半导体二极管和晶体管的开关特性.pptVIP

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《基础电子技术》7.1半导体二极管和晶体管的开关特性

基础电子技术 哈尔滨工业大学电子学教研室编 蔡惟铮 主编 王淑娟 杨春玲 齐 明 副主编 HIT基础电子技术电子教案 7.1 半导体二极管和晶体管的   开关特性 7.1.1 二极管的开关特性 7.1.2 晶体管的开关特性 在数字电路中,二极管和晶体管往往工作于“开”或“关”的状态,只是从一个稳态过渡到另一个稳态时,快速地通过放大区。 由于存在结电容和分布参数等因素, 二极管和晶体管的“开”或“关”需要一定的时间,由器件的开关特性加以讨论。 7.1.1 二极管的开关特性 7.1.1.1 静态特性 二极管正偏时导通,正向电阻很小;二极管反偏时截止,反向电阻很大,二极管可近似看成一个开关。 二极管处于稳态(或称为静态)的正偏或反偏条件下,可以把二极管看成一个开关,对于低速大信号可使用这个模型。 7.1.1.2 动态特性 当二极管由正偏突然反偏时,二极管开关是否由接通突然也随之转为关断?实验指出,并非如此,实际曲线见下图 。 1. 从正向导通到反向截止 当uI=UH?UD时,相当于二极管加正向电压,且RL?rD时,二极管的正向电流 当ui突然反向,且uI =UL<0V,相当对二极管反偏。在uI反向后的 一段时间,反向电流大于反向饱和电流,|IR|?|Is|,经过tre时间后,IR才减小到0.1IR,二极管接近关断。 tre称为反向恢复时间。tre又可分为两段,反向电流基本上为恒定的一段,即-IR对应的时间,称为存储时间ts。 反向恢复时间的成因是因为二极管正偏时,载流子产生扩散运动,形成正向电流。这样就在PN结两侧形成了载流子浓度分布的梯度,有了一定数量载流子的积累。正向导电时载流子的这种积累现象叫做电荷存储效应。 当uI突然反向时,这些积累的载流子不会马上消失,除一部分复合外,其余的在外加反向电压作用下形成了反向漂移电流IR。 只要存储的电荷足够多,就可维持住IR这么大反向电流,持续ts时间,该电流的大小由外电路负载电阻RL限制。当存贮电荷逐渐消失而维持不住IR这么大的反向电流时,IR就要开始下降,趋向于-Is 。为便于计算,当该电流下降到0.1IR时,就认为二极管恢复为关断,动态过程结束。 2. 从反向截止到正向导通 当二极管关断后,反向饱和电流很小,这时PN结电容主要为势垒电容。所以,当输入信号由反向突然转为正向时,正向电压首先给势垒电容放电,使PN结内电场由宽变窄,扩散作用加强,使二极管导通,产生正向电流。此时由于结电容很小,放电很快,PN结很快由反偏转为正偏,形成较大的正向电流。 此时,虽然也形成了较大的扩散电容,但是扩散电容已为PN结的较小的正向电阻所旁路,对开通时间影响不大。所以,二极管由截止转为导通的开通时间是很短的,对开关速度影响可忽略。 7.1.2 晶体管的开关特性 7.1.2.1 半导体晶体管的静态开关特性 1. 截止(out off) 当输入信号使uBE<Uth(on)时(NPN管),iB≤0,iC≈0,晶体管截止。 晶体管截止,发射结和集电结均处于反向偏压之下, iB≤0,iC≈0,相当一个开关的断开。 2. 饱和(Saturation) 当iB≥IBS时,发射结正偏,此时晶体管饱和,饱和集电极电流和饱和基极电流分别为 iB比IBS大的越多,晶体管饱和越深。 7.1.2.2 半导体晶体管的动态开关特性 晶体管的动态开关特性的成因与二极管相似。 1. 开启过程 开启过程是晶体管从截止转化到饱和的过程,这一段所需的时间用ton表示,称为开启时间,而开启时间ton=td+tr。 td称为延迟时间,它对应从uI的正阶跃开始到iC达到0.1ICS所滞后的时间。其成因是输入信号给发射结电容充电,使之从反偏过渡到正偏,建立起基极电流。 tr称为上升时间,它对应从0.1ICS开始到集电极电流达到0.9ICS所需的时间。 经过td后,发射区向基区注入的电子越来越多,基区电子的浓度也越来越大,上升时间tr就是iC从0.1ICS达到0.9ICS所对应的时间。 在基区中电子积累的同时,必须有等量的空穴的积累,才能保持基区电中性。电子是从发射极注入的,而空穴要靠基流iB得到,所以tr与iB的大小有关。iB越大,正向驱动能力越强,基区电荷积累越快,tr越小。 2. 关闭过程

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