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——————————————————————————————————————————————— 光纤测试快速入门 福禄克公司 尹岗 测试光纤链路时经常选择测试光纤的衰减量，由衰减量来判断光纤链路敷设施工后的质量，通常还要求同时对光纤的长度进行测试，看看是否超过了某种应用规定的长度限制。有时，在误码率达不到要求的情况下，还要求测试和评估光纤链路中的连接点、熔接点的质量。以便帮助判断是设备或者设备上的光模块的问题，还是光纤链路本身的问题。 由此，计算机网络中的光纤测试通常被分成了两类：分别叫做“一类测试”和“二类测试”。一类测试(Tear 1)主要参数是衰减量和长度。二类测试(Tear 2)的主要目的就是获取能显示链路中各种“质量事件”的OTDR曲线。让我们先来看看什么叫“一类测试”。 衰减测试最基本原理见图一：在光纤的一端是光源，另一端则接一个光功率计。将 图一 衰减=Po-Pi 光源的输出光功率Po减去光功率计接收的到光功率Pi就是这根光纤的衰减。即：(Po-Pi)。只要先测量一下输入光纤的光功率Po，就可以根据现场测得的Pi算出这根光纤的衰减值。 测试原理虽然简单，但实际测试的时候还需要做一点调整，这样才能保证可操作性，否则会遇到许多“工程问题”。比如，实际测试时一般都会使用测试跳线，那么测试结果就应该把跳线引入的衰减扣除掉。图二为实际测试时的一个例子：先将光源和光功率计开机，预热5分钟，待光源稳定后将两根测试跳线用光纤耦合器短接，测出Po值。 图二 将两根测试跳线对接测得光源的Po 图三 拆开耦合器，加入被测光纤测得Pi 拆开耦合器，加入被测光纤，测出Pi，则这根光纤链路的衰减量＝(Po-Pi)。 为什么要使用测试跳线来进行测试呢？图一的测试模式在实际工作当中是不被提倡的，使用测试跳线的一个重要原因就是，光源和光功率计的测试插座在经过一定次数的插拔后磨损程度会增加，精度和稳定性会随之迅速下降。为保持测试精度和稳定性，在使用一定次数以后，需要更换费用较高的光源和光功率计的插座。而采用测试跳线则可以避免这种情况：测试跳线的一端与光源或光功率计相连，另一端与被测光纤链路相连。为了减少仪器插座的 磨损次数，测试跳线装上后，在最长一整天或者持续半天的测试工作中一般不再从仪器上拔下来。此时被经常插拔和磨损的是测试跳线的一端，此端被磨损到一定程度后，就可以更换测试跳，更换的费用比更换仪器插座的费用要低得多(甚至达到100倍以上的价格差距)。建议：测试跳线连接测试仪器的一端最好做好标记，每次固定使用此端，减少漂移，保证精度。 以上介绍的测试方法有一点小小的不便，那就是每次测试的结果都要做一次减法运算(Po-Pi)后，才能得出被测光纤的实际衰减值。实际测试光纤衰减时经常用的是改进的测试方法：在光源稳定后，不拔出光源上连接的测试跳线(这样可避免射入被测光纤的光功率Po不发生漂移)，把此时的Po设为“相对零”，即在光功率计上按下“参考”键，强行认为Po=参考零功率---这个在测试前进行的预备操作，也经常被称作“归零”、“设参考零”或“设置基准值”。这样，在接入被测光纤后，光功率计上测得的值就是光纤的衰减值(Po-Pi)，无须再做减法运算。衰减值的单位通常用dB(分贝)来表示，这个值可直接存入光功率计的测试报告中。采用预先设“参考零”值的测试方法，很适合进行大批量的光纤测试工作。 因此，测试光纤的衰减量时一般都有一个测试前的“归零”程序，即按图二的方法设置“参考零”。然后才按图三的模式进行实际测试。 光源和光功率计一般会随仪器成套提供，当然也可以单独采购。比如，有时只用光功率计去测量光模块的输出功率或者光接收模块的输入功率，以此判断设备的光接收模块接收到的光信号强度是否复合要求，或者判断光发送模块发送出的光信号强度是否复合要求。维护人员也可依此来大致判断光纤是否有问题，此时可不使用配套的测试光源。 “典型”的被测光纤链路其衰减值由三部分构成---即被测光纤本身的衰减值加上“两端”连接器各自的衰减值。但细心的读者仔细观察图三后会发现一个问题：在图二中设置“参考零”时，已将2根跳线的衰减、1个耦合器的衰减和2个仪器插座的衰减共五部分包含在了“参考零”当中。所以，图三的测试结果只包含了被测光纤和一端连接器(耦合器)这两部分的衰减，而没有包括被测光纤另一端连接器(耦合器)的衰减(因为此连接器的衰减已在设置参考零时被“归零”过了)。也就是说，我们测出的衰减结果是被测光纤加上其“一端”的连接器的衰减值，而不是被测光纤加上其“两端”连接器的衰减。如果用户要考察的是一条典型的被测光纤加上其两端连接器的衰减值，则这种测试结果是不准确的。参见图四