低浓度烟尘测量技术简介选编.pptx

广泛的应用基础 光散射方法在烟气、大气颗粒物测量中有非常多的应用 锥形微量振荡天平（TEOM）在大气颗粒物中1万多台的应用 光散射-24*7*365运行 优点 易于安装 低维护量 低浓度下灵敏 限制 间接测量质量 测量颗粒物的间接特性 受颗粒大小、比重、形状的影响 将液滴作为颗粒物 PM 需要时使用微量震荡天平 实时测量 质量测量可溯源至NIST标准 质量与频率变化之间有直接的关系 锥形原件在它的自然频率下震荡 滤膜上颗粒物质量变化时频率增大 限制采样时长 准确度高 PM TEOM-锥形振荡微量天平 锥形原件在其自然频率下振荡 颗粒物被连续采集在滤膜上 累积质量导致频率变小 质量与频率变化有直接关系 锥形原件 ΔM(g) = 质量变化 K0 = 弹性常数 （包括质量转化系数） f0 = 初始频率(Hz) f1 = 最终频率(Hz) 在大气颗粒物监测中被广泛使用、验证 颗粒物CEMS 典型测量位置 Product Design Probe Monitor 探头 Sample conditioning样品处理 Sample delivery样品输送 Measurement测量 Mass reference质量参比 Probe Controller, Model 3880i 探头控制器，3880i型 Flow control流量控制 Power regulation电源管理 Data management数据处理 PM CEMS Product Design 技术 前散射 TEOM质量参比 质量流量控制器并加热 平台 i-Series. (e.g., MODBUS) 区别 内部质量参比 可溯源至NIST标准 可远程校准 IP TEOM内部质量参比（已获得美国专利） PM CEMS Flow Diagram气路图 Wet stack applications Probe Monitor探头 All measurements adjusted for dilution and purge flows Forward light scattering – continuous 前散射-连续 TEOM – periodic mass reference TEOM-阶段性质量参比 3-way bypass valve 3通旁路阀 Probe Controller Model 3880i探头控制器3880i 探头控制器 气路控制 电源管理 数据管理 模拟量输出 6路电压输出: 0–100 mV, 1, 5, 10 V (可选) 5% of full-scale over/under range (可选), 6路电流输出: firmware configured 0-20 mA, 4-20 mA 开关量输出: 1 路电源故障, 10 digital relays, 100 mA @ 200 VDC 开关量输入:16 TTL level user select programmable 串口: RS-232，RS-485 C-Link, MODBUS, streaming 以太网: 10Mbs 静态或动态TCP/IP Diagram of PM CEMS Nephelometer Assembly 光散射组件 TEOM Nozzle 采样嘴 Dilution Assembly 稀释组件 Heated Bench Assembly 加热室 Motherboard主板 Transformer变压器 24 VDC Power Supply MFC Bypass Return MFC LPM MFC Dilution Pump泵 Parameter Specification Range量程 0–250 mg/m3 Accuracy准确度 ± 20%未进行污染源校正 ± 10% 进行污染源校正后 Detection limit最低检测限 0.25 mg/m3 @ 15-分钟系统整合 Response time响应时间 T9015 minutes Max stack temperature烟气温度 200 °C Flue gas烟气湿度  40% Velocity range流速范围 4-20 mls PM CEMS: Specifications 测试数据 #1现场按PS-11 规范线性和多项式修正 测试数据 #2现场按PS-11 规范线性和多项式修正 测试数据-两台颗粒物监测仪平行测量 总结 Thermo Scientific PM CEMS 满足EPA PS-11  不受颗粒物特性变化的影响  避免