第5章_光滑極限量规.pptVIP

第5章 光滑极限量规;5.1 概 述;5.1.1 量规的作用;常用量规形式;常用量规形式;用塞规检测孔径;用卡规检测轴径;量规检测过程;校对量规;工作量规和校对量规;5.2 泰勒原则;孔、轴的合格性判断应是其体外作用尺寸和实际尺寸两者合格性的判断，体外作用尺寸由最大实体尺寸控制；实际尺寸由最小实体尺寸控制。孔、轴尺寸采用包容要求时，完工工件应该用光滑极限量规来检验。;5.2 泰勒原则;;通规对泰勒原则的允许偏离如下： （1）长度偏离 为了用已标准化的量 规，在制造方法能保证孔、轴素线的直线度误差小到不致影响配合 特性的情况下，允许通规的长度小于结合长度。 ;（2）形状偏离 孔用量规形状偏离——检验大尺寸的孔，用全形塞规通规 既笨重又不方便使用，在制造方法能保证孔的圆度或素线的直 线度误差小到不致影响配合特性的情况下，允许使用不全形塞 规或球端杆规。 轴用量规形状偏离——用全形环规检验轴径很不方便，甚 至不能实现，在制造方法能保证轴的圆度（特别是棱圆度）和 素线的直线度误差小到不致影响配合特性的情况下，通规允许 用不全形塞规或球端杆规。如环规通规不能检验曲轴的连杆轴 颈，只能用卡规检验。;止规对泰勒原则的允许偏离如下： （1）对点状测量面，考虑到检验中点接触易于磨损，往往 改用小平面、圆柱面或球面来代替。 （2）检验小尺寸的孔时，考虑到便于检测，常改用全形塞 规。 （3）对刚性不好的薄壁零件，若用点状测量面检验，会使 工件发生变形，可改用全形塞规或环规。;5.3 量规公差带;;;虽然量规是一种精密的检验工具，其制造精度要求 比被测工件更高，但在制造时也不可避免地存在制造 误差，因此对量规也必须规定制造公差。 由于通规在使用过程中经常通过工件，因而会逐渐 磨损。为了使通规具有一定的使用寿命，应留出适当 的磨损储量，因此规定将通规公差带从最大实体尺寸 向工件公差带内缩一个距离；止规不通过工件，因此 规定将止规公差带放在工件公差带内，紧靠最小实体 尺寸处。校对量规公差带不需留磨损储量。;校对量规的公差TP为被校对轴用量规制造公差的50%，校对量规的形状公差应控制在其尺寸公差带内。由于校对量规精度高，制造困难，而目前测量技术又在不断发展，因此在实际生产中逐渐用量块或计量仪器代替校对量规。 1.校通—通（TT） 它用在轴用通规制造时，其作用是防止通规尺寸小于其最小极限尺寸，故公差带是从通规的下偏差起向轴用通规公差带内分布。检验时该校对塞规应通过轴用通规，否则该轴用通规不合格。;2.校止—通（ZT） 它用在轴用止规制造时，其作用是防止止规尺寸小于其最小极限尺寸，故其公差带是从止规的下偏差起向轴用止规公差带内分布。检验时，该校对塞规应通过轴用止规，否则该轴用止规不合格。 3.校通—损（TS） 它用于检验使用中的轴用通规，其作用是防止通规在使用过程中超过磨损极限尺寸，故其公差带是从通规的磨损极限起向轴用通规公差带内分布。;5.4 量规设计;5.4.1 量规的结构形式;5.4.1 量规的结构形式; 按照国标推荐，测孔时，可用下列型式的量规：全形塞规、 不全形塞规、片状塞规和球端塞规。测轴时，可用环规和卡规。 ;5.4.1 量规的结构形式;5.4.2 量规的技术要求;5.4.3 量规工作尺寸的计算;5.4.4 量规设计应用举例;5.4.4 量规设计应用举例;5.4.4 量规设计应用举例;5.3.4 量规设计应用举例;5.3.4 量规设计应用举例;孔用量规;轴用量规