扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计.pdfVIP

计算机辅助设计与圆形学学报第 21 卷第 4 期 2009 年 4 月 JOURNAL OF COMPUTER-AIDED DESIGN . COMPUTER GRAPHICS 扩展相容性扫描树中的测试晌应压缩器设计 成永升II 尤志强2) 锦 州继顺 H 1)(湖南大学计算机与通信学院 长沙 410082) 的(糊闹大学软件学院 仅沙 410082) (chengyong~heng@gmail. com) Vol. 21. No.4 Apr. ? 2009 摘 宴 在扫描树测试技术中，对相容单元扫描移入相同的测试向盘值可以显著地减少测试应用时间，但会使测试 需要的号|脚数和测试响应数据最增大.为了减少扫描树测试结构需要的号|脚数以及测试响应数据囊，问时克服错误 位扩散带来的网难，在界或网络的葱础上，提出一种活用于扫捕树结构的测试响应压缩器.该压缩器由扩散抑制电 路和异或网络构成，通过抑制电路消除错误位扩散给测试响应以缩带来的阔难.最后，用实验数据从性能上分析了 该测试响应底缩糠的适用性，对于 ISCAS的你准电路，最商将输出?缩 74 倍，且没有混叠产生. 关键词 可测试性设计 1 :3t扫描测试:扫描树 4测试响应压缩 z界或网络 中图法分类号 TP302 An Efficient Response Cornpactor for Extended Cornpatibilities Scan Tree Construction Cheng Yongsheng ll You Zhiqiang 2 ). Kuang lishun 1 ) 1) (School 0/ Comtuter and Communicatíon. Hunan Universíty , Changsha 410082) 们 (Softu皿 re School. Hunan Uníversíty. Changsha 410082) Abstract Scan tree techniques reduce test application tíme drastically by shifting the same test data ínto the compatíble scan cells símultaneously. However , both its test pins and test response data volume increase. 丁his paper proposes a test response compactor for extended compatibilities scan tree construction based on an XOR-network to reduce the test píns. test response data volume and to overcome the error bits diffuse problem at the same tíme. The proposed compactor consists of a diffusion control logic and an XOR-network. The diffusion control logíc eliminates the error bits diffusion problem. Experimental results show that the proposed compactor brings 0 aliasing for ISCASS9 benchmark circuits whíle the compaction ratio ís up to 74X. Key words design for testability; full scan testing; scan tree; test response compaction; XOR-network 可捆IJ性设计(design for testability , DFT)技术 增加了复杂电路测试的可控制性和可观察性.全扫 描测试技水是最葫娥和使用范围最广的 DFT 技术 之全扫描测试技术通过将时序电路的测试产 生问题转化为组合电路的测试产生问题，降低了电 路的测试生成的复杂度，提高了故障擅盖率.但是， [11 于测出向盘需经过扫描链中的各个扫描单元…级 …锹往后传递，导班测试应用时间、测试数据最和测 收稿日期 :2008一06-10 ，修四日期 :2008一 11-10. 蓦金项目 2 闵家自然科学基金60773207) ，教育部销学回国人员科研启动基金 g 湖南省自然科学习班会 (06