SPC培训讲解.ppt

介绍几个统计特征值 1.表示研究数据集中程度的统计特征值 Ｘ：算术平均值／小组均值 Ｘ：平均值的平均值／研究数据的总体平均值 　　　　　　　　　 2.表示研究数据离散程度的统计特征值 Ｒ：极差／小组极差值 Ｓ样本标准偏差（它包括每个样本与样本均值的平均差） 上、下控制限的计算（样本容量规定） 注 意： 当样本容量变化即≥0.75，则控制限不变，即是一条直线，若0.75时，则上、下控制限是齿形线 当样本容量有变化时，则 要求：子组容量n是恒定的近似于正态分布，故样本容量应该使 其中： 不合格品数图即np图 n=被检零件数量 np=所发现不合格品数量 单值： 单值的均值： 上、下控制限： ● 要求样本容量足够大、C=0的子组数量要很小 ● 近似于正态分布的原因 单位样品不合格数图即U图 单值： 表示样本之中所发现的不合格数 表示样本容量 单值的均值： 上、下控制限的计算： 注意 当样本容量变化时如： ≥0.75则上、下限近似于一条直线，若 0.75则是一条齿形线 当样本容量变化时，则 不合格数图C图 要求：样本容量n是恒定的C=O的子组数很少 单值的计算： Ci=样本中所发现的不合格数；i：1，….，k 单值的均值： k＝样本数量 上、下控制限的计算 第三章 其它类型控制图 如：概率控制图 红绿灯信号控制图等将在第二次SPC培训中介绍 （4）重新计算控制限 剔除异常点/排除特殊原因 完成纠正措施后重新抽样 根据新样本的数据重新计算控制限重复（2）（3）直至稳定 总 结 后面我们将通过X-R图分析作出控制图功能的描述； X-R图所体现的概念适用于所有控制图，数据越大，单个分组特殊原因的错误信号的概率会增加 － － 注 意 当控制图显示有特殊原因信号时，如未能获得特殊原因的证据，应慎重，因为盲目采取纠正可能导致过程输出的总变差的增加，而不是降低 。 案例：持续延长控制限 P 64 图Ⅱ：7 “控制”的最终概念 生产过程中，控制的完美状态是从来达不到的，完美状态不是过程控制的目标，而是使过程控制达到经济合理的状态 。 第二章 B节 定义“不受控“信号 点超出控制限表明可能有： ● 计算错误/描点错误； ● 在哪一点可能零件间差异增加； ● 测量系统发生变化； ● 测量系统分析能力不足； 控制限内的模式或趋势链： ● 连续7点排列在 的一侧 ● 连续7点上升/下降 讨 论 X图和R图上的链如何分析？ 都是不利的吗？ － － － 注 意 当子组容量n≤5时，低于的R的链可能性会增加。可能当n≥8时，才能表示这种链反映过程变差的真正减小。 － 明显的非随机模式 通常：大约2/3点落在控制限中间的1/3处，其它1/3的点落在外面的2/3区域内。如明显大于2/3点落在中间区，则应进行调查，是否有： ● 描点/计算错误； ● 取样方法不当； ● 数据通过编辑； 特殊原因识别准则 P75表Ⅱ.1 平均运行长度（ARL） 它表示：失控信号之间所期望的样本子组的数量 ARL的确定 P76表A ARL表显示 ● 此表显示平均变化1.5平均值或标准差，此信号可在15个子组后发出，4个标准变化将在2个子组内识别出 ● 一个没有变化的过程、每隔370个子组可能发出一个错误信号 ● 增加更多的失控准则可以减少所需的子组如表B ● 增加连续七点排列在X或R一侧，显示没有变化的过程所需要的子组数为60个，则就大大的降低发生第Ⅱ类错误的排除 注 意 当过程受控我们希望一个较长的ARL，当识别过程变化则需要一个效短的ARL，因此需要我们加以平衡 控制图计算分式： 子组均值： 子组极差： （每一个子组内的测量值） 总均值： k＝用于确定总均值和极差均值的子组数量平均 平均极差： 的标准差估计值: X的标准估计值： 上下控制限的计算 常 数 表 P181 页（附录E） P182 页 P183 页 常 数 表 P181 页（附录E） P182 页 P183 页 常 数 表 P181 页（附录E） P182 页 P183 页 均值和标准差图计算 子组均值： 子组标准差： 过程总均值： n=子组中样本的容量 X的标准差估计值： 平均标准差： X的标准差估计值： 上、下控制限计算 中位数和极差图： 如果n是奇数 如果n是偶数 n=子组中的元素数量 K＝用于确定平均中位数和平均极差的子组数量 其余与X—R控制图计算公式相同 注：由于微机的普通应用，X—R图应用价值越来越低 X～MR极差图