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《数字逻辑技术》实验 参考教材 《电子技术基础实验–分析、调试、综合设计》 王传新主编，高等教育出版社 实验要求及注意事项 1、实验前必须预习实验内容，做到思路清晰，实验任务明确。 2、实验时认真阅读实验指导书，按电路原理图正确连接实验导线，仔细检查无误，方可通电实验。 3、实验中多注意观察，如有元器件冒烟、发烫或有异味等应立即关断电源，报告实验老师，待找出原因、排除故障后才能重新实验。 4、实验中须更改连线，必须切断电源后才能进行。 5、实验中应仔细观察实验现象，认真记录实验结果、数据、波形、分析正确与否。 6、实验结束关闭电源，拔除电源插头，并将仪器设备、工具、导线等按规定整理好。 数字集成电路与封装 （1）数字集成电路分类 (小规模数字集成电路（SSIC） (中规模数字集成电路（MSIC） (大规模和超大规模数字集成电路（LSIC和VLSIC） （2）数字集成电路制造工艺 (中、小规模数字IC 中最常用的是TTL 电路和CMOS 电路。 (TTL 器件型号以74（或54）作前缀，称为74/54系列，如2输入与非逻辑门为74LS00等。 (中、小规模CMOS数字集成电路主要是4XXX/45XX（X代表0 - 9的数字）系列，高速CMOS电路HC（74HC系列），与TTL兼容的高速CMOS电路HCT（74HCT系列）。，如2输入与非逻辑门为4011。 (TTL电路与CMOS 电路各有优缺点，TTL 速度高，CMOS 电路功耗小、电源范围大、抗干扰能力强。由于TTL在世界范围内应用很广，所以在数字电路教学实验中，我们主要使用TTL74 系列电路作为实验用器件，采用单一+5V作为供电电源。 （3）中、小规模数字集成电路封装形式 数字IC器件有多种封装形式。为了教学实验方便，实验中所用的74 系列器件封装选用双列直插式。 (从正面（上面）看，器件一端有一个半圆的缺口，这是正方向的标志。缺口左边的引脚号为1，引脚号按逆时针方向增加。图 中的数字表示引脚号。双列直插封装IC引脚数有14、16、20、24、28 等若干种。 (74 系列器件一般左下角的最后一个引脚是GND，右上角的引脚是VCC 。例如，14 引脚器件引脚7 是GND，引脚14 是VCC，但也有一些例外。所以使用集成电路器件时要先看清它的引脚图，找对电源和地，避免因接线错误造成器件损坏。 （4）数字集成电路使用注意问题 必须注意，不能带电插、拔器件。插、拔器件只能在关断电源的情况下进行。 实验1 基本集成逻辑门电路功能分析 1–1 实验基本目的 1、理解TTL普通门电路的参数含义。 2、掌握TTL普通门电路的使用方法。 3、掌握分析普通门电路逻辑功能的一般方法。 4、理解TTL普通门电路参数的一般分析方法。 1–2 实验任务 1、TTL四2输入与非门74LS00逻辑功能分析（参考实验教材P303） （1）选用一个与非逻辑门，进行2输入与非逻辑功能分析。 （2）参考图6.1.6连接电路，在实验板创建2输入与非逻辑功能分析电路，改变开关A、B状态，用数字万用表测量电路输出，将测试结果记入表6.1.7中。 （3）仪器仪表：直流稳压电源＋5V、数字万用表。 （4）元器件：74LS00（四2输入与非门）。 2、TTL四2输入与非门74LS00电压传输特性分析（参考实验教材P304） （1）参考图6.1.2（注：图中4011BD_5V器件用74LS00替代），在实验板创建TTL四2输入与非门74LS00电压传输特性分析电路。 （2）调整输入直流电压在0～5V之间变化，利用数字万用表测量输出电压值，将结果记入自拟的表格中。（注：参考表6.1.3，为了得到合理的电压传输特性曲线，在输出电压的跳变区，应多取几个电压值。） （3）画与非门74LS00电压传输特性曲线。 （4）在电压传输特性曲线上标注与非门与直流电压有关的参数，并将结果填入表6.1.4。 （5）仪器仪表：直流稳压电源＋5V、数字万用表。 （6）元器件：74LS00（四2输入与非门）。 3、TTL六反相器（非逻辑）74LS04动态参数分析（参考实验教材P305） （1）参考图6.1.5（注：图中4069BCL_5V器件用74LS04替代），在实验板创建TTL六反相器（非逻辑）74LS04动态参数分析电路。 （2）利用双踪示波器测量74LS04反相器输入信号和输出信号波形。 （3）用示波器测试电路输出电压从低电平突变为高电平和从高电平突变为低电平所需的传输时间，并记录测量结果表6.1.6。 （4）仪器仪表：直流稳压电源＋5V、脉冲信号发生器、双踪示波器。 （5）元器件：74LS04（TTL六反相器）。 4、2输入与非门逻辑特性分析（参考实验教材P305思考问题） （1）2输入与非门的一