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局放仪的使用培训资料 上海松宝科技发展有限公司 上海电动工具研究所 目 录 局部放电的定义及产生原因 局部放电的原理、过程及危害 局部放电的表征参数 局部放电测量原理 测量中的干扰及抗干扰方法 局部放电试验的电路主要接法及优缺点 各种试品的测试接线及加压方法 测试步骤 图谱简介 局部放电的定义及产生原因 在电场作用下，绝缘系统中只有部分区域发生放电，而没有击穿施加电压的导体之间，既尚未击穿，这种现象称之为局部放电。对于被气体包围的导体附近发生的局部放电称之为电晕。局部放电可能发生在导体边上，也可能发生在绝缘体的表面上和内部，发生在表面的称为表面局部放电，发生在内部的称为内部局部放电，由此，总结一下局部放电的定义，指部分的桥接在导体间绝缘的一种电气放电，局部放电产生原因主要有以下几种： 1、电场不均匀。 2、电介质不均匀。 3、制造过程的气泡或杂质最经常发生放电的原因是绝缘体内部或表面存在气泡，其次是有些设备的运行过程中会发生热胀冷缩，不同材料特别是导体与介质的膨胀系数不同，也会逐渐出现裂缝，再有一些是在运行过程中有机高分子的老化，分解出各种挥发物，在高场强的作用下，电荷不断的由导体进入介质中，在注入点上就会使介质气化。 二、局部放电的原理、过程及危害 1、局部放电的原理 电子碰撞电离理论，在电场被加速的自由电子与气体中性分子碰撞，当电子的动能足够高时，就会使中性分子激发出电子，形成新的自由电子和正离子，由此循环形成电子雪崩。 2、局放电的过程 Gemant最早对模拟实际气隙与人工气隙作了大量研究，用电容器与火花间隙的各种组合来模拟，whitehead等人提出了气隙放电的等值电路，后来mason用这个电路对放电的过程作了较好的描述，下面就对交流电压下局部放电的abc等值模拟电路予以介绍。介质内部含有气泡，在交流电压下产生的内部放电特性可由图1-1的模拟电路（abc等值电路）予以表示；其中Cc是模拟介质中产生放电间隙（如气泡）的电容；Cb代表与Cc串连部分介质的合成电容；Ca表示其余部分介质的电容。 （a）实际介质 （b）模拟电路 Ⅰ－介质有缺陷（气泡）的部分（虚线表示） Ⅱ－介质无缺陷部分 图1-1表示具有内部放电的模拟电路 图1-1中以并联一对火花间隙的电容c来模拟产生局部放电的内部气泡。 图1-2表示了在交流电压下局部放电的发生过程。 图1-2介质内单气泡对交流电压下的局部放电过程 u（t）－外施交流电压 uc（t）－气泡不击穿时在气泡上的电压 uc’（t）－有局部放电时气泡上的实际电压 vc－气泡的击穿电压 vr－气泡的残余电压 us－局部放电起始电压（瞬时值） ur－与气泡残余电压vr对应的外施电压 ir－气泡中的放电电流 电极间总电容cx＝ca+（cb×cc）/（cb+cc）=ca电极间施加交流电压u（t）时，气泡电容Cc上对应的电压为Uc（t）。如图2-1所示，此时的uc（t）所代表的是气泡被击穿时的电压的曲线。 Uc（t）＝U（t）×Cb/Cc+Cb 外施电压u（t）上升时，气泡上电压Uc（t）也上升，当U（t）上升到Us时，气泡上电压Uc达到气泡击穿电压，气泡击穿，产生大量的正、负离子，在电场作用下各自迁移到气泡上下壁，形成空间电荷，建立反电场，削弱了气泡内的总电场强度，使放电熄灭，气泡又恢复绝缘性能，这样的一次放电持续时间是极短暂的，对一般的空气气泡来说，大约只有几个毫微秒（10的负8次方到10的负9次方秒），所以电压Uc（t）几乎瞬间从Vc降到Vr，Vr是残余电压，而气泡上电压Uc’（t）将随U（t）的增大继续由Vr再次升高到Vc时，气泡再一次击穿，发生又一次局部放电，但此时相应的外施电压比Us小，为（Us-Ur），这是因为气泡上有残余电压Vr的内电场作用的结果。Ur是与气泡残余电压Vr相应的外施电压，如此反复上述过程，即外施电压每增加（Us-Ur），就产生一次局部放电，直到前一次放电熄灭后，Uc’（t）上升到峰值时共增加量不足以达Vc（相当于外施电压的增量Δ比（Us-Ur）小）为止。 此后，随着外施电压U（t）经过峰值Um后减小，外施电压在气泡中建立反方向电场，由于气泡中原存的残余电压内电场与外电场方向相反，故外施电压须经（Us+Ur）的电压变化，才能使用气泡上的电压达到击穿电压Vc。假定正、负方向击穿电压Vc相等，产生一次局部放电，放电很快熄灭，气泡中电压瞬时降到残余电压Vr（也假定正、负方向相同），外施电压连续下降，当再下降（Us-Ur）时，气泡电压就又达到Vc从而又产生一次局部放电，如此重复上述过程，直到外施电压升到反向峰值—Um的增量Δ不足以达到（Us-Ur）