计算机断层成像实验(工业CT).docVIP

旭 计算机断层扫描成像实验 CT即计算机断层成像技术(Computed Tomography)，它是与一般辐射成像完全不同的成像方法。一般辐射成像是将三维物体投影到二维平面成像，各层面影像重叠，造成相互干扰，不仅图像模糊，而且损失了深度信息，不能满足分析评价要求。CT是把被测体所检测断层孤立出来成像，避免了其余部分的干扰和影响，图像质量高，能清晰、准确地展示所测部位内部的结构关系、物质组成及缺陷状况，检测效果是其它传统的无损检测方法所不及的。 CT技术首先应用于医学领域，形成了医学CT(MCT)技术，其重要作用被评价为是医学诊断上的革命。CT技术成功应用于医学领域后，美国率先将其引入到航天及其它工业部门，另一些发达国家相继跟上，经过一段不长的时间，形成了CT技术的又一个分支—工业CT(Industrial Computed Tomography, ICT)，其重要作用被评价是无损检则领域的重大技术突破。 CT技术(MCT和ICT)应用十分广泛，医用CT已为人们所熟知。工业CT的应用几乎遍及所有产业领域，因同出于CT技术，医学CT和工业CT在基本原理和功能组成上是相同的，但因检测对象不同，技术指标及系统结构就有较大差别。前者检测对象是人体，单一而确定，性能指标及设备结构较规范，适于批量生产。工业CT检测对象是工业产品，形状、组成、尺寸及重量等千差万别，而且测量要求不一，由此带来技术上的复杂性及结构的多样化，专用性较强。 一、实验目的 1.了解CT成像的基本原理； 2.了解最基本的CT教学实验仪的结构； 3.掌握使用CT教学实验仪进行断层扫描成像的操作步骤； 4.掌握初步的图象处理方法。 二、实验仪器 CT教学实验仪(包括扫描仪、计算机、显示器)。标准测试工件：条测试卡(铜、铝)，孔测试卡(铜、铝)，密度测试卡(大小各一)。少许橡皮泥等。 三、实验原理 CT是一种绝妙的成像技术，具有支撑它的数学、物理和技术基础。 早在1917年，丹麦数学家雷当(J. Radon)的研究工作已为CT技术建立了数学理论基础。他从数学上证明了某种物理参量的二维分布函数，可由该函数在其定义域内的所有线积分完全确定。该结论指出：需要有无穷多个且积分路径互不完全重叠的线积分，才能精确无误地确定该二维分布，否则只能是实际分布的一个估计。该研究结果的意义在于：只要能知道一个未知二维分布函数的所有线积分，即可求得该二维分布函数；获得CT断层图像，就是求取能反映断层内部结构和组成的某种物理参量的二维分布。当二维分布函数已知，要将其转换为图像，则是一个简单的显示问题。因此，首要的问题是如何求取能反映被检测断层内部结构组成的物理参量二维分布函数的线积分。 物理研究指出，一束射线穿过物质并与物质相互作用后，射线强度将受到射线路径上物质的吸收或散射而衰减，衰减规律由比尔定律确定。可用衰减系数度量衰减程度。考虑一般性，设物质系非均匀的，一个面上衰减系数分布为μ(x、y)。当射线穿过该物质面，入射强度为I0的射线经衰减后以强度I穿出，射线在面内的路径长度为L，如图1。 由比尔定律确定的I0、I及μ(x、y)的关系如下： 图1　射线穿过衰减系数为μ(x,y)的物质面 (1) 由(1)式可得 (2) (2)式表明，射线路径L上衰减系数为μ(x、y)的线积分等于射线入射强度I0与出射强度I之比的自然对数。I0和I可用探测器测得，则路径L上衰减系数的线积分即可算出。推而广之，当射线以不同方向和位置穿过该物质面，对应的所有路径上的衰减系数线积分值，均可照此求出，从而得到一个线积分集合。该集合若是无穷大，则可精确无误地确定该物质面的衰减系数二维分布，否则，将是具有一定误差的估计。因为物质的衰减系数与物质的质量密度直接相关(当然还与原子序数有关)，故衰减系数的二维分布也可体现为密度的二维分布，由此转换成的断面图像能够展现其结构关系和物质组成。实际的射线束总具有一定的截面，只能与具有一定厚度的切片或断层物质相互作用，故所确定的衰减系数或密度的二维分布以及它们的图像表示，应是一定体积的积分效应，绝不是理想的点、线、面的结果。 有上述数学、物理基础后，为在工程技术上实现，避开硬件的技术要求，在方法上还需解决两个主要问题。首先是如何提取检测断层衰减系数线积分的数据集，其次是如何利用该数据集，确定出衰减系数的二维分布。解决第一个问题可采用扫描检测方法，即用射线束有规律地（含方法、位置、数量等）穿过被测体所检测断层并相应进行射线强度测量，围绕提高扫描检测效率，可采用各具特色的扫描检测模式。解决第二个问题则是应用图像重建