单节产品测试方法与原理解读.ppt

4、过流测试 B- A B + P- P+ 5、内阻测试方式 调试界面菜单命令介绍 测试列表各项目介绍 【序号】测试序号（不可修改）； 【测试项目名称】项目名称（不可修改）; 【工作电压】电池两端电压; 【上限】参数正误差范围； 【下限】参数负误差范围； 【测试结果】测试值（不可修改）； 【单位】测试项目的单位; 【测试条件】测试每一个项目时,所需要的条件. 【测试方式】主要因各种IC特性不同,采用不同的方式. 【延迟】设置测试等待的时间量； 【选择】选择该项目测不测试； 调试的一些说明 测量值上限、下限的设置：以芯片规格书为标准； 步进测试起始值设置：比标准值范围宽一点就可以了，放的大宽会影响测试时间，使测试时变长。 步进值的设定：此值越小，测试值越精确，测试时间越长，此值越大，测试越快，测试值越粗略。 延时值：依规格书设定，可略加大一点。 * * BLUEWAY ELECTRONIC CO .，LTD 一、 单节典型产品测试方法 NO.16 ZONE,ZHONGKAI,HIGHTECHNOLOGY INDUSTRY DEVELOPMENT ZONE,HUIZHOU GUANGDONG CHINA 1、现有产品测试种类 单节产品测试设备： 一体化（升级、烧录、校准、校验、）； 性能； 过流（大电流） ICT（NFC） （1）BQ+一次保护 （升级）烧录/校准/校验、性能、一体化+性能 （2）BQ+二次保护 （升级）烧录/校准/校验、性能、性能一体化+性能（二次保护） （3）加密IC+一次保护 （升级）烧录/校验、性能、烧录+校验+性能 性能A+ICT （4）保护+NFC BLUEWAY ELECTRONIC CO .，LTD 中国·广东·惠州·仲恺国家高新技术产业开发区16＃小区 二、测试设备原理与方法 （一）烧录校准校验一体化 设备介绍 –内部构件 烧录校准界面 26S 校验界面 29 烧录校准+校验总时间55S左右 1、烧录过程: 读取Device Version,如果一致则进行下一步,不一致直接返回 进入ROM模式烧录: Get the 1st 2 rows (1 page) of program flash 分两次读取,每次都要验证校验和 erase the 1st page of program flash和要烧录的ROM文件对比Device,不一致Write Data Flash data后返回 Erases entire Data Flash 进行校验和验证 写32个页面并得到总校验和,每个页面都要校验和的验证 验证总校验和 Write Data Flash data 每次写32字节,然后对32字节校验和验证 RunGGCode 2、校准过程： . 测试板提供高精准数控基准电压源3600mV+/-0.25mV; 基准电流源1000mA+/-0.25mA； . GG IC通过AD转换读取电压/电流(AD转换精度1mv/mA) . 安捷伦读取测试板的电压/电流值写入到GG IC内部（写入精度0.499mv/mA）； . GG IC内部比较AD获取的与安捷伦写 入的电压/电流值，更新Ref Voltage与CC Gain； 3、校验过程： . 测试板提供高精准数控基准电压源3800mV+/-0.25mV; 基准电流源600mA+/-0.25mA； . 安捷伦读取测试板的电压/电流/温度值与 GG IC通过AD转换读取电压/电流/温度值相比较,差值在规格范围内为OK否则NG。 .将GG IC内读取的主要ROM文件内容与标准内容文件相比较，完全一致为OK,否则为NG。 Blueway 校准校验一体化设备 Tester firmware Single channel tester 采用并行测试方式，仅使用一个串口 I2C Bus HDQ bq Tester bq Tester bq Tester bq Tester bq Tester bq Tester Test Flow Control Data MCU I2C Bus Test Rs232 Flow Control Test Volt and Current Line 设备原理介绍—框图 　 2.6 电量计EEPROM设置参数Gas gauge