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ram测试 RAM测试方法 RAM测试方法 RAM测试方法 逻辑流程图（或文字）： RAM测试应该包含3个方面：单元测试、数据线测试、地址线测试。 对于控制线，由于在对前两者的测试中已经附带完成，因此不作专门测试。由于地址线的测试总在假设数据线正常的情况下进行，所以先进行数据线测试，再进行地址线测试。 其中，地址线测试应包含地址线开路测试和地址线短路测试两种类型的测试，地址线开路测试的算法对地址线短路的情况不能保证任何情况下都适用。 对于数据线和地址线的测试，还有一种很完备的算法，借助次算法可以测试出RAM可能出现的所有故障。但是，该方法不能判断是地址线和数据出现故障，而且其测试时间较长。 单元测试是对RAM的整个内部存储区域进行测试，在某些情况下，可以不进行单元测试。但是，建议如果不是特殊情况，最好进行单元测试。 需要说明的几点是： 1． RAM的测试一定要在系统建立之前进行，因为当系统运行时，它要用RAM作为运行 环境。 2． 如果SDRAM测试不通过的话，再进行下一步的测试是没有任何意义的，因为操作系 统可能在任何时候出现一些不可预测的错误。 3． 当地址线或数据线短路的时候，很可能导致CPU系统（或测试程序）运行不起来。 在实际应用中就遇到过这种情况，短接不同的地址线或数据线，有时候CPU系统可以运行起来，有时候则无法运行，具体情况依被测试的系统不同而不同。 4． 故障定位问题。如果系统的RAM是由多片RAM扩展而来（如用2片8为RAM组成一 个16位RAM系统），就涉及到故障定位问题，即给出是哪一片RAM出了故障。对于地址线或数据线开路的情况，很容易定位。对于地址线或数据线短路的情况，即使给出定位信息，也只能作为参考。 此外，对两个问题进行着重说明。 1． 静态RAM与动态RAM的区别 对于动态RAM，需要定期对其存储内容进行刷新，否则其存储内容将丢失。一般的，CPU都会提供对动态RAM刷新的支持，往往位于CPU的内存控制器模块。这个问题不属于RAM测试方法的范围，这里不作深入讨论。 对于动态RAM，只要测试程序保证了对其的正确刷新，这里讨论的测试方法就完全适用于其测试。 2． RAM测试在测试软件运行流程中的位置 一般情况下，RAM测试的执行位置有两种选择： 1） 测试程序刚刚启动，在进入MAIN函数执行之前进行RAM测试； 2） 测试程序启动完毕，在接收到上位机的RAM测试命令时执行RAM测试。 对于第一种位置，一般情况下可以对整个RAM空间进行测试（个别的系统除外，以前遇到过）。采用这种测试方式，往往在测试完成后，将测试结果存放在内存中，当上位机下发RAM测试命令的时候，直接将结果上报给上位机，而不再进行测试。 对于第二种位置，在测试的时候，对于测试程序占用的数据存储空间等不能进行测试，并且，测试完成后最好复位测试程序。 根据不同的被测系统情况，可以选择这两种测试位置之一，也可一将两者结合起来。 RAM测试方法 这里仅以单片为例，不讨论多片扩展的情况。 下面给出各种测试的具体算法。 一、数据线测试 图1 RAM数据线测试流程 数据线测试用于测试各个数据线的开路和短路状态。 数据线的测试往往采用“走1法”，即依次将一根数据线拉高，向一个固定地址先写，再读，然后判断。而下面的方法避免了“走1法”可能存在的问题，并且更高效。 RAM测试方法 由于写一个存储器单元然后马上读取同一单元的数据，可能读到的只是数据线上的数据，而不是实际存储单元的，另外考虑到要测试到每根数据线，因此选择任意两个存储单元作为测试单元。 这里假设RAM为64K*8位，对于其他的情况可以根据下面的算法进行修订。 设被测RAM的基地址为base_addr，选择的测试单元的偏移地址为offset_1和offset_2(offset_1不等于offset_2,且offset_1、offset_2位于被测RAM的地址空间内)，则测试单元的实际地址分别为base_addr+offset_1 和 base_addr+offset_2。 先对base_addr+offset_1单元写入0x55,再对base_addr+offset_2单元写入0xaa，然后先读base_addr+offset_1单元，再读base_addr+offset_2单元，假如没有问题，接着对base_addr+offset_1单元写入0xaa，再对base_addr+offset_2单元写入0x55,还是先读base_addr+offset_1单元，再读base_addr+offset_2单元，并做判断。 其流程图如图1所示。 二、地址线开路测试 图2 RAM地址线开路测试流程 地址线开路测试用于测试各个地址线的开路状态。 地址线开路的