材料微区测试平台文档..docxVIP

材料微区分析平台平台目前拥有的仪器有：冷场发射扫描电镜（CFSEM）、热场发射扫描电镜（TFSEM）、S-520扫描电镜（SEM）、电子探针（EPMA）、X射线粉末衍射仪（XRD）、X射线单晶衍射仪（SXRD）、微区X射线荧光光谱仪（μ- XRF）、以及冷冻干燥仪、临界点干燥仪等配套的扫描电镜制样设备。可以进行各类材料表面形貌、微区结构和元素成分及材料的物相和结构分析等。平台人员专业技术力量强，实力雄厚，在材料微区形貌结构、成分分析和物相、结构分析及其各类电镜的维修等方面都具有丰富的经验；平台学术气氛浓厚，承担了国家自然科学基金和广东省自然科学基金多项；平台人员精诚合作，改革创新，竭诚为校内外提供优质的服务。?人员具体情况如下：姓名职务/职称工作职责联系电话电子邮箱赵文霞平台主任/?? 副研究员主持平台全面工作/?电子探haowx@mail.sysu.edu.cn李阳研究员单晶数据处理iyang223@ mail.sysu.edu.cn许瑞梅实验师冷场发射扫描电镜、S-520扫描电usxrm@mail.sysu.edu.cn程小宁实验师热场发射扫描电镜、S-520扫描电hengxn7@mail.sysu.edu.cn徐?艳高级工程师X射线粉末衍射仪、微区X射线荧光光谱uyan@mail.sysu.edu.cn冯小龙工程师X射线单晶衍射仪、微区X射线荧光光谱usfxl@mail.sysu.edu.cn梁超伦实验师透射电iangchl@mail.sysu.edu.cn黄烘工程师透射电uangh27@mail.sysu.edu.cn张浩助理实验师透射电hhao26 @mail.sysu.edu.cn?热场扫描电镜/能谱/背散射型号：Quanta 400/INCA/HKL热场发射扫描电镜/ X-射线能谱仪/电子背散射衍射系统 (Thermal FE Environment Scanning Electron Microscope/ Energy Dispersive X-RAY Spectrometer，EDS/ Electron Backscatter Diffraction，EBSD)?生产厂家：荷兰飞利浦FEI公司/ Oxford (英国牛津公司) / HKL (丹麦HKL公司，现属于英国牛津公司)?主要技术指标：1、电镜的分辨率：2 nm 放大倍数：7 ~ 500,0002、扫描电镜分辨率：30kV高真空、低真空: 2.0nm；3kV低真空: 3.5nm 3、30kV透射扫描（STEM）分辨率：1.5nm；环境真空模式下30kV时，分辨率2.0nm4、能谱元素分析范围：5B~92U 5、EBSD空间分辨率(Al, 20kV): 0.1 μm FEG SEM；角度分辨率优于0.5度6、相鉴定功能：包括七大晶系，具有最大的相鉴定数据库 ?应用范围：Quanta 400 FEG场发射扫描电子显微镜是表面分析重要的表征工具之一，具有灵活先进的自动化操作系统。具有三种成像真空模式--高真空模式、低真空模式和ESEMTM模式，可以观察分析各种类型的样品。它可以对处理过的样品和未处理的原始样品提供微米、纳米级表面特征的图像和微观分析数据。在生物学、地质、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他领域中得到日益广泛的应用。本仪器还配有INCA X-射线能谱仪和EBSD背散射电子衍射系统，元素分析范围为4Be~92U，同时可进行晶体结构和取向分析。该仪器上是集多领域手段于一体的显微形貌、显微成分、显微结构和显微织构的现代化显微分析系统。?样品要求：各种类型的尺寸小于5cm×5cm×5cm（尺寸毫米级为宜）的干燥固体样品 ?联系方式：020-84110783300kV 透射电子显微镜型号：Tecnai? G2 F30300 kV 透射电子显微镜?生产厂家：美国FEI公司主要技术指标：1、加速电压?200 kV～300 kV??2、点分辨率（nm）0.203、线分辨率（nm）0.1024、信息限度（nm）0.145、TEM放大倍数范围?60 Χ -1，000kx6、相机长度（mm）80 - 4，5007、最大衍射角度?±128、STEM HAADF分辨率（nm）0.199、STEM放大倍数范围 150 Χ -230Mx10、能谱分辨率?? ≤ 136 eV11、能量过滤器分辨率: ≤ 0.9 eV应用范围：FEI公司Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜是一个真正多功能，多用户环境的300 kV场发射透射电子显微镜，它将各种透射电镜技术，包括CTEM, S