加速寿命试验v7（中文）.docVIP

加速寿命试验（ALT） 1. 目的： 介绍温度、电源和湿度循环的评价。 本章详细说明了顺利开展和完成温度、湿度和电源循环试验的程序、原理。本章将说明加速寿命试验的方法、要求和步骤。 限制（局限性）：试验过程中发现的所有失效都应输入FRACAS，并进行全面的调查分析，直至找到根本原因。在高温或高湿度环境下，有些元器件即使没有失效也不能正常运行。这些失效类型不遵循加速模型，事实上，他们有特殊的没有能计算的加速失效的原因。 2. 关键参数和输入要求： 影响产品性能的试验变量，可按照以下描述分为关键干扰参数和关键控制参数。可作为试验输入进行设置，记录以进行分析，或做为下表中ETP的详细说明。 关键干扰参数：关键干扰参数（KNP）是指设计过程不能控制的，任何产品使用或相互作用的变量（如电压，周围环境温度，水质等）。注意，本试验的目的是，控制参数（如以下输入描述），以了解KNP对产品性能的影响。 关键干扰参数（KNP） (KNP 由P图定义说明) 试验输入设置 (设置到这个水平进行试验) 试验输出记录 (测量结果并记录) A. 电压 额定值（名义值） B. 温度 参考图表 C. 湿度 参考图表 D. 电源线性稳定性 参考图表 E. 电迁移 显微镜检查 F. 产品特性 关键控制参数：关键控制参数（KCP）是设计过程能够控制的，产品使用或相互作用的参数（如，尺寸，运行范围，材料，等）。 关键控制参数（KCP） (KCP由P图定义说明) 试验输入设置 (设置到这个水平进行试验) 试验输出记录 (测量结果并记录) A. 消耗功率 B. 尺寸 C. 电源电压 D. 电子计时 E. 产品特性 3. 试验设备和资源 设备/测试装置 (普通名称 输入特性说明) 测量 (设备输出要求，包括单位) 范围 (最小/最大的可测量范围) 分辨率 (测量的最大增量) 期望计量误差 (计量器的可变性, (e) A. 温湿度试验箱 -20至105℃ B. 可编程电源 100-300VAC C. 50X光学立体显微镜 50 倍放大系数 需提供资源项目 (普通名称) 数量 测量单位 消耗品/可重复使用 备注 A. 适当的模拟负载或者实验箱 视样品数量 可重复使用 B. 高温导线 视样品数量 可重复使用 C. 工装夹具 视样品数量 可重复使用 4. 期望试验时间（取决于平均条件，根据试验条件可能会有变化） 安装：1天 试验程序：数周。试验期间，实验室应每天检查被试样品。试验时间由使用概图和加速因素决定。 试验后清理：1天 文件处理：0.5天 总期望试验时间：数周，取决于使用图表和加速因素 5. 试验样品 样本量 样本量的选择应满足90％的置信区间和90％的可靠性。适当时，可选取置信区间和可靠性目标之一。样本量的计算作为试验计划的一部分，由SCE进行审核。可靠性样品量，如呈指数分配，可计算如下： n=(L / (T*Af)) *(ln(1-CI)) / (ln(R)) L：产品寿命时间（小时） T：试验总时间（小时） Af：加速因素（参考加速因素计算） CI：置信区间 R：可靠性 如：选取90％的置信区间和90％的可靠性，当T*Af=L时，需要的样品量为22。 注意1：如为FR1或CEM电路板，最少需要10块主板进行试验。如按以上计算少于10块，则样本量为10。如计算结果大于10，则使用实际计算结果。 注意2：电子照明产品应采用附录A进行加速寿命试验设计程序和嵌入附录中的ALT计算模板。 限制/预处理/设置 可靠性试验的10个过程（步骤） 加速寿命试验开始之前，首先完成10个步骤中的前8步。这些步骤是必需的，是为了了解环境类型和产品寿命周期的使用条件。这10个步骤可在可靠性网站上查找。 试验中使用的温度应该结合实际使用寿命中的温度（如，燃气灶应为105℃）。 装配测试应选择进行2倍寿命或20年寿命中少的进行测试。电子照明和水中装配产品应按照附录A要求进行测试，另外，选择试验要求应审核接受并由首席电子工程师（SCE）批准。 所有的测试必须有经批准的ALT测试规格书或测试计划。 6. 测试程序 电控系统测试用来检验组成系统的元器件的运行情况。微处理器控制的所有系统都应按照测试软件的程序运行，测试软件应该考虑到系统内部所有功能的加速运行。无声系统应结合周期基础上的功能测试的方法，以确保使用寿命。 设计 电控系统应设计为被试主板分开控制