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题目：四方火花塞诊断与配置芯片测试软件的设计 SUBJECT: QSDD CHIP TEST DESIGN OF SOFTWARE PAGE 4 摘 要 本文针对Delphi Delco电子系统中的QSDD产品的测试特性应用进行研究，并对其生产过程中的最终测试程序进行设计。该产品是在DTS（Dedicated Test Systems）半导体测试系统下进行测试的。该设计对提高其测试性能，缩短测试时间，提高企业利润等都有着十分重要的意义。 关键词：QSDD；DTS测试系统；IDQQ测试技术；半导体测试  ABSTRACT This paper is mainly about researching the applications of testing characteristics of Delphi Delco in the electronic system QSDD. The final testing code during the product procedure is designed. This product is tested in the DTS(Dedicated Test Systems). This design will enhance the testing performance, reduce the testing time, and enhance the enterprise profit. Key words：QSDD; DTS system; IDQQ testing system;semi-conductor testing ii i 目 录 MACROBUTTON InsertCrossReference TOC \o 1-3 \h \z \u HYPERLINK \l _Toc139025665 一 绪论 PAGEREF _Toc139025665 \h 1 HYPERLINK \l _Toc139025666 二 QSDD产品的测试特性 PAGEREF _Toc139025666 \h 3 HYPERLINK \l _Toc139025667 2.1 Delphi与Delphi Delco 电子系统 PAGEREF _Toc139025667 \h 3 HYPERLINK \l _Toc139025668 2.2 QSDD的含义 PAGEREF _Toc139025668 \h 3 HYPERLINK \l _Toc139025669 2.3 QSDD产品测试特性 PAGEREF _Toc139025669 \h 3 HYPERLINK \l _Toc139025670 2.3.1 运行条件 PAGEREF _Toc139025670 \h 3 HYPERLINK \l _Toc139025671 2.3.2 电性要求及模块描述 PAGEREF _Toc139025671 \h 4 HYPERLINK \l _Toc139025672 2.3.3 QSDD芯片功能模块描述 PAGEREF _Toc139025672 \h 6 HYPERLINK \l _Toc139025673 2.3.4 直流DC特性 PAGEREF _Toc139025673 \h 9 HYPERLINK \l _Toc139025674 2.3.5 交流AC特性 PAGEREF _Toc139025674 \h 11 HYPERLINK \l _Toc139025675 2.4 测试的电性操作要求 PAGEREF _Toc139025675 \h 12 HYPERLINK \l _Toc139025676 三 DTS芯片测试系统 PAGEREF _Toc139025676 \h 13 HYPERLINK \l _Toc139025677 3.1 芯片测试时刻及测试对象 PAGEREF _Toc139025677 \h 13 HYPERLINK \l _Toc139025678 3.2 芯片测试使用的仪器 PAGEREF _Toc139025678 \h 14 HYPERLINK \l _Toc139025679 3.2.1 测试系统 PAGEREF _Toc139025679 \h 15 HYPERLINK \l _Toc139025680 3.2.2 测试板 PAGEREF _Toc139025680 \h 15 HYPERLINK \l _Toc139025681 3.2.3 测试机 PAGEREF _T