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第三章 制造和版图 3.1 IC制造工艺 3.2 版图基础 3.1 IC制造工艺 单(N)阱槽隔离 CMOS 工艺 现代 CMOS 工艺—双阱槽隔离 多层金属互连 互连的电容和电阻 电容计算中的连线尺寸 工艺等比例缩小时的互连线横截面 3.2 版图基础 两类设计规则:精度和定位 最小尺寸晶体管的两种可选版图 CMOS 工艺层次 0.25 μm CMOS 工艺层次 同一层设计规则 晶体管版图设计规则 通孔(Via) 和接触孔( Contact) 选择层(离子注入等) CMOS 反相器版图 * * Layer Polysilicon Metal1 Metal2 Contact To Poly Contact To Diffusion Via Well (p,n) Active Area (n+,p+) Color Representation Yellow Green Red Blue Magenta Black Black Black Select (p+,n+) Green 金属2 Metal2 4 3 10 9 0 阱Well 有源区 Active 3 3 多晶硅 Polysilicon 2 2 不等电势 Different Potential 等电势 Same Potential 金属1 Metal1 3 3 2 引线孔Contact 或 通孔Via 选择层 Select 2 或 6 2 1 2 5 3 晶体管 Transistor 1 2 1 金属包通孔(过孔) Metal to Poly Contact 金属包多晶引线孔 金属包有源区引线孔 Metal to Active Contact 1 2 5 4 3 2 2 1 3 3 2 2 2 阱Well 衬底Substrate 选择 Select 3 5

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