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* 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 5、荧光分光光度计的分析方法 ? 5. 2、定量分析 5.2.2、内标法： 在样品溶液中加入已知的标准溶液分别测量样品加标准溶液、样品溶液和空白溶液的荧光强度，在根据它们之间的关系进行计算。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 5、荧光分光光度计的分析方法 ? 5. 2、定量分析 5.2.2、内标法： 其计算公式如下： C样/C标=F样/(F标+样-F样) * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 5、荧光分光光度计的分析方法 ? 5. 2、定量分析 5.2.3、标准、样品对照法(单点校正法) 当样品溶液遵循荧光强度的关系，可在相同测量条件下测量标准溶液和样品溶液的强度。测量得到的强度度分别为A标和A样，荧光强度的关系。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 5、荧光分光光度计的分析方法 ? 5. 2、定量分析 5.2.3、标准、样品对照法(单点校正法) F样/F标=C样/C标 式中：标准和样品的荧光强度可以测出来，C标是已知的，因此待测样品浓度C样可计算出来。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 6、荧光测定所用基本的方法 ? 6.1、直接测定法： 是利用荧光物质自身的荧光，即所谓自身荧光或内源荧光来进行测定。只要分析物质本身所发荧光，便可通过测量它的荧光强度测定其浓度，如果有其它干扰物质存在时，则要预先加以分离。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 6、荧光测定所用基本的方法 ? 6.2、间接测定法： 有众多的有机化合物发及绝大多数的无机化合物溶液，它们可了可能不发荧光，或者因荧光量子产率很低而只显现很微弱的荧光，无法直接测定，只能采用间接的办法。间接测定的方法有多种，可按分析物质的具体情况加以选择。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 6、荧光测定所用基本的方法 ? 6.2、间接测定法： 6.2.1、化学反应法 这种方法是通过化学反应将非荧光物质转变为适合于测定的荧光物质.如许多金属离子可以通过使它们与某些有机螯合物反应之后加以测定。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 6、荧光测定所用基本的方法 ? 6.2、间接测定法： 6.2.1、化学反应法 F Cs Fx Cx * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 6、荧光测定所用基本的方法 ? 6.2、间接测定法： 6.2.2、荧光淬灭法 如果分析物质本身不发荧光，然而又具有使某种荧光化合物的淬灭能力，可通过测量荧光化合物荧光强度的下降，间接地测量该物质。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 6、荧光测定所用基本的方法 ? 6.2、间接测定法： 6.2.2、荧光淬灭法 If C * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 3、荧光分光光度法的特点 3.3、荧光和分子的关系： 取代基的类型和位置：取代基对荧光体的影响分为加强荧光的、减弱荧光的和影响不明显的。 加强荧光的取代基有—OH—ORR—NH2—CN、—NHR、—NR2、—OCH3等给电子取代基，由于它们n电子的电子云几乎与芳环上的π轨道平行，因而共享了功轭 电子结构，同时，扩大了共轭双键体系。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 3、荧光分光光度法的特点 3.3、荧光和分子的关系： 减弱荧光的有—COOH、—NO2、—NO、—SH等得电子取代基，它们n电子的电子云并不与芳环上π电子平面。影响不明显的取代基有—NH3、—R、—SO3H等。 （4）电子跃迁类型：含有氮、氧、硫杂原子的有机物，它们的荧光强度与电子跃迁类型有关。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法 3、荧光分光光度法的特点 3.3、荧光和分子的关系： 3.3.2、金属鳌合物的荧光： 除过元素的顺磁性原子会发生线状荧光光谱外，大多数无机盐类金属离子在溶液中只能发生无辐射跃迁，因而不产生荧光。但是,在某些条件下，金属鳌合物却能产生很强的荧光，并可用于痕量金属离子的测定。 * 光学分析仪器培训 * 荧光分光光度法