固定式粗糙度及轮廓测量设备简介 - 霍美尔.pdfVIP

OPTICAL SYSTEMS LASERS MATERIAL PROCESSING INDUSTRIAL METROLOGY TRAFFIC SO LUTIONS DEFENSE CIVIL SYSTEMS HOMMEL-ETAMIC T8000 / C8000 霍梅尔-艾达米克 T8000 / C8000 Stationary roughness and contour measurement 固定式粗糙度和轮廓测量设备 PRECISION IS OUR BUSINESS 工业计量技术 您的工业测量 伙伴 霍梅尔-艾达米克公司隶属德国耶拿集团，不仅是全球 为您的测量需求提供最完美的解决方案 接触式和非接触式测量技术的领航者，也是各种检测设 您可以在我们的众多产品中选择最符合应用的一款。 备的系统供货商。我们的产品种类繁多，品种齐全，不仅 我们的产品种类繁多，有粗糙度仪 包含表面形貌测 能为用户提供各类气电接触式和光学非接触式的粗糙 量 、轮廓仪以及粗糙度和轮廓组合仪。组合仪当中有 度仪和轮廓仪，也能为用户提供生产过程中不同工序间 带独立探测系统的测量设备，也有共用一个探测系统 的各种测量设备、最终测量机以及测量室使用的精密测 的测量设备。 量设备。除此之外我们也提供从技术咨询、培训、服务、 到和用户签订维修合同的一条龙服务。 一仪多用是我们贯穿始终的设计宗旨， 所以如果有 特殊测量需求，您可以随时通过选购附件拓展测量仪 霍梅尔-艾达米克公司，与您共进, 无限精确。 的功能。 当然我们也可以完全根据您的要求为您量身配置测量 凭借我们不断创新的技术实力和百年老厂的丰富 仪。 经验，我们将为您提供最高精度的测量仪，使您从中受 益。 粗糙度测量 轮廓测量 2 T8000 柔性粗糙度 和轮廓测量仪 型号 测量内容 简短描述 页码 T8000 R 测量粗糙度 ，也可拓展测量 专业测量粗糙度的入门产品，根据测量 6/ 7 工件表面形貌。 需求有多种配置，也可拓展用于测量轮廓。 C8000 轮廓测量，可配置数字探测系统。 经过最佳优化的轮廓测量仪，能够测量、 8/9 评价并记录文件。 T8000 C 轮廓测量，可配置数字探测 针对各个测量任务的个性化测量站配置， 10/ 11 系统，也可拓展测量粗糙度。 进行自动测量运行。 T8000 RC 粗糙度和轮廓组合测量， 测量粗糙度和轮廓时有独立的探测系统 ， 12/ 13 通用性好。 没有复杂的换装过程。 T8000 SC 粗糙度和轮廓组合测量， 测量斜面和曲面的粗糙度 ，在轮廓评价中 14/ 15 共用一个探测系统。 集成了粗糙度评价。 nanoscan 高精测量粗糙度和轮廓。 粗糙度和轮廓同时测量，精度卓越， 16/ 17 操作舒适。 共用一个探测系统测量粗糙度和轮廓 采用一个超精的光机探测系统测量粗糙度和轮廓 3 T8000 使用数字探测系统 进行轮廓测量 当公差变小时，与功能相关的几何形状变得也会变得愈加复杂。因此，我们所有的轮廓测量系统均在Z轴与 X轴配有高分辨率的直线光栅尺，从而能够给出直接的二维坐标测量点，而无不良和模拟影响。 wavecontour? digital ： 技术亮点 用于标准测量任务的 ? 数字探测系统 高性价比解决方案 ? 测量范围达60mm ，分辨率为0.05μm wavecontour?数字探测系统运行可靠，在测量室和 ? 下降行程受限的电动测头臂 生产现场均可持续提供高测量精度，同时还能满足 ? 测力可调 轮廓测量技术中的所有典型性能要求。该系统的垂 ? 各种测头臂适用于各种测量任务 直测量范围为60mm ，这使它便于操作，并能提高 日常测量任务的灵活性。在整个测量范围中，垂直 分辨率可达0.05μm 。无论多么小的几何形状， 0.1μm 的水平测量方向分辨率也能实现可靠测量和 再现。 wavecontour?数字探测系统：测量范围广，能满足所有标准 配有数字探测系统，即使是非常小的几何形状也能测量。 测量任务。 4 T8000 wavecontour? digiscan ： 技术亮点 严格测量任务的系统 ? 数字探测系统 解决方案 ? 测量范围达60/90mm ，分辨率为0.05/0.075μm wavecontour? digiscan探测系统采用具有臂内芯片 ? 通过软件选项进行外部/ 内部探测 技术的智能测头臂。轮廓探测系统可以探测到正在 ? 行程受限的CNC控制测头臂定位 使用哪一条测头臂，并自动设置正确的测量条件。 ? 电控式探测头保护 因此，当测量任务频繁更换时，可以避免因操作失 ? 臂内芯片技术，可： 误而造成测量不当或损坏针尖。wavecontou